Huace-6S 高低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：90000
Huace-6S 高低溫探針臺(tái)zuida可用于12英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結(jié)霜
Huace HT-11高低溫真空探針臺(tái) 參考價(jià)：100000
Huace HT-11高低溫真空探針臺(tái)溫度范圍77K-675K(液氮)；可應(yīng)用于真空及常規(guī)環(huán)境；chao高溫度分辨率；特殊客制低溫系統(tǒng)；具有jigao穩(wěn)定性
華測(cè)儀器 高溫介電溫譜儀 壓電陶瓷 參考價(jià)：100000
華測(cè)儀器高溫介電溫譜儀壓電陶瓷主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，測(cè)試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co 圖機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被測(cè)樣...
華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)/鐵電儀 參考價(jià)：50000
華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)/鐵電儀，集鐵電參數(shù)分析，介電溫譜測(cè)試儀，絕緣電阻測(cè)試，低電阻測(cè)試，四探針測(cè)試，塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)，系統(tǒng)控制器，高壓極化電源，...
華測(cè) 介電儲(chǔ)能材料電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：150000
華測(cè) 介電儲(chǔ)能材料電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。采用特殊高壓開(kāi)關(guān)，通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程，開(kāi)關(guān)可以承受10kV高壓，寄生電...
華測(cè) 熱釋電測(cè)試/壓電系數(shù)測(cè)試儀 參考價(jià)：20000
華測(cè) 熱釋電測(cè)試/壓電系數(shù)測(cè)試儀可測(cè)量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù),是一款功能壓電材料測(cè)試裝置。
華測(cè)儀器 半導(dǎo)體探針臺(tái) 參考價(jià)：25000
華測(cè)儀器半導(dǎo)體探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。
工頻介電常數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗測(cè)定儀 參考價(jià)：78000
工頻介電常數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗測(cè)定儀主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線(xiàn)路,主要可以測(cè)量電容器，互感器，變壓器，各種電工絕...
華測(cè)HC6630型 頻譜/阻抗分析儀測(cè)介電常數(shù) 參考價(jià)：100000
華測(cè)HC6630型 頻譜/阻抗分析儀測(cè)介電常數(shù)是一種電子測(cè)試儀器。它可以測(cè)量復(fù)數(shù)電阻隨測(cè)試頻率的變化。阻抗是表征電子元器件，電子電路和元件材料的一個(gè)很重要的參數(shù)...
華測(cè)HC6630型 阻抗分析儀測(cè)介電常數(shù) 參考價(jià)：100000
華測(cè)HC6630型 阻抗分析儀測(cè)介電常數(shù)可在不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量。其等效電路分析功能支援7種不同的參數(shù)模型(三元件、四元件)，可協(xié)助客戶(hù)模擬元件的等效...
華測(cè)HC系列多功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：4545
功能材料電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)阻抗分析儀、高阻計(jì)配合高低溫測(cè)試裝置，能夠精確的測(cè)量高分子材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗以及在高低溫條件下的介電溫譜及介電頻譜等參數(shù)；可以其自主...
華測(cè)儀器 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 參考價(jià)：25000
華測(cè)儀器 簡(jiǎn)易探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。
國(guó)產(chǎn)/定制功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)/絕緣材料 參考價(jià)：300000
國(guó)產(chǎn)/定制功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)/絕緣材料具有多種測(cè)試功能，包括鐵電參數(shù)測(cè)試、壓電參數(shù)測(cè)試、熱釋電測(cè)試以及絕緣電阻測(cè)試等。具體來(lái)說(shuō)，它可以完成功能材料的鐵電、壓電...
華測(cè)儀器 高溫介電溫譜儀 觸屏操作 參考價(jià)：1000
華測(cè)儀器 高溫介電溫譜儀 觸屏操作主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，測(cè)試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co 圖機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被...
熱釋電系數(shù)測(cè)試儀 參考價(jià)：90000
熱釋電系數(shù)測(cè)試儀，基于熱釋電動(dòng)態(tài)電流法設(shè)計(jì),由溫度控制器、加熱爐體、微電流放大器、溫度測(cè)試儀以及計(jì)算機(jī)軟件系統(tǒng)組成。溫度控制器控制加熱爐體內(nèi)部溫度;樣品的電流信...
工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀 參考價(jià)：9419
工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測(cè)量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固...
高壓TSDC/介電特性/熱刺激測(cè)試 參考價(jià)：200000
高壓TSDC/介電特性/熱刺激測(cè)試Huace TSDC-3000高壓TSDC設(shè)備應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素，諸如...
熱刺激電流、熱釋電、漏電流測(cè)試儀器 參考價(jià)：200000
熱刺激電流、熱釋電、漏電流測(cè)試儀器整機(jī)保修三年，7X24小時(shí)在線(xiàn)服務(wù)。預(yù)裝遠(yuǎn)程服務(wù)軟件，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程升級(jí)、維護(hù)等。
壓電材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀 參考價(jià)：78791
壓電材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀可測(cè)量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù),它是一款功能較完善的壓電材料測(cè)試裝置。
壓電材料居里溫度測(cè)試儀D33 參考價(jià)：88904
壓電材料居里溫度測(cè)試儀D33,可以分析被測(cè)樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時(shí)間變化的曲線(xiàn)。通過(guò)軟件將這些變化曲線(xiàn)的溫度譜、時(shí)間譜等集成一體并進(jìn)行分析測(cè)量并可以直接得...
壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES 參考價(jià)：91000
壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES本系統(tǒng)主要用于壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。大信號(hào)和小信號(hào)材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測(cè)...
精密壓電MEMS分析儀/微機(jī)電系統(tǒng)/測(cè)試儀器 參考價(jià)：300000
精密壓電MEMS分析儀/微機(jī)電系統(tǒng)/測(cè)試儀器將數(shù)字、模擬和通信電路功能與精密多鐵非線(xiàn)性材料試驗(yàn)機(jī)的現(xiàn)有非線(xiàn)性材料測(cè)量功能相結(jié)合，所有功能均由 Radiant 的...
Huace-8 綜合性分析探針臺(tái) 參考價(jià)：100000
Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)zuida可用于12英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)；可滿(mǎn)足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高...
Huace-8D 雙面探針臺(tái) 參考價(jià)：80000
Huace-8D 雙面探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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