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當(dāng)前位置：江蘇摩信工業(yè)系統(tǒng)有限公司>>產(chǎn)品展示>>IC卡檢測(cè)儀器>>IC卡彎曲循環(huán)測(cè)試儀
識(shí)別卡動(dòng)態(tài)抗彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
芯片卡動(dòng)態(tài)雙邊彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)是針對(duì)性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標(biāo)...
智能卡雙彎曲扭曲測(cè)試機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
智能卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
智能卡彎曲扭曲測(cè)試機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
卡片扭曲彎曲測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品用途：用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
IC卡彎曲循環(huán)測(cè)試儀本儀器針對(duì)性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...
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