JW-BK112型 比表面及孔徑分析儀 精微高博是比表面及孔徑分析儀的廠商,精微高博比表面及孔徑分析儀一并榮獲中國(guó)*測(cè)試證書(shū),*及CE認(rèn)證并且還有*的產(chǎn)品是通過(guò)** 精微高博比表面及孔徑分析儀經(jīng)*技術(shù)鑒定，控制精度和測(cè)試精度達(dá)到*水平，已在國(guó)內(nèi)普遍應(yīng)用。 比表面及孔徑分析儀功能 比表面測(cè)定： BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面，Langmuir比表面，外表面測(cè)定； BJH孔徑分布測(cè)定： 總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布； 微孔常規(guī)分析： 微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、D&R、MP等） 真密度測(cè)試 比表面及孔徑分析儀技術(shù)參數(shù) 比表面及孔徑分析儀原理方法： 低溫氮吸附，靜態(tài)容量法 比表面及孔徑分析儀吸附氣體： 高純氮?dú)猓部捎秒?、氦、二氧化碳等其他氣體 比表面及孔徑分析儀極限真空： 4 - 6.7×10-2Pa （ 3- 5×10-4 Torr） 比表面及孔徑分析儀氮?dú)夥謮海? 4×10-5 – 0.995 比表面及孔徑分析儀控制精度： 測(cè)試壓力點(diǎn)zui小控制間隔可小于0.1 KPa （0.75 Torr） ,可測(cè)上千個(gè)點(diǎn)。 比表面及孔徑分析儀測(cè)試范圍： 比表面 ≥ 0.01 M2/g，無(wú)規(guī)定上限 孔徑 0.35 - 400 nm 比表面及孔徑分析儀測(cè)試精度： ≤±2% 比表面及孔徑分析儀測(cè)試效率： 多點(diǎn)BET比表面每樣平均20min 孔徑分析時(shí)間隨不同材質(zhì)各異 比表面及孔徑分析儀預(yù) 處 理： 兩樣品同位處理，溫度50-400℃，±1℃ 比表面及孔徑分析儀軟件： BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等 真密度測(cè)試：重復(fù)性精度0.02% 比表面及孔徑分析儀特色 ◎ 比表面儀具有業(yè)內(nèi)*通過(guò)*技術(shù)鑒定產(chǎn)品，控制和測(cè)試精度達(dá)到*水平； ◎ 比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù)，保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性和安全性； ◎ 比表面儀具有*的多途徑液氮面控制與校正技術(shù)，連續(xù)測(cè)試10小時(shí)也不需添加液氮； ◎ 比表面儀具有有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線(xiàn)數(shù)據(jù)庫(kù)和規(guī)范的分析方法，微孔常規(guī)測(cè)試技術(shù)國(guó)內(nèi)； ◎ 比表面儀具有軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實(shí)時(shí)顯示樣品吸、脫附壓力變化及平衡過(guò)程； ◎ 比表面儀具有實(shí)驗(yàn)全程自動(dòng)化、智能化控制，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行*可以無(wú)人職守； 靜態(tài)容量法比表面測(cè)試儀特點(diǎn)之真密度測(cè)試： 技術(shù)參數(shù)： JW-BK系列靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀，適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析，*的高精度真密度測(cè)試功能，測(cè)試時(shí)間不超過(guò)3分鐘/次，連續(xù)測(cè)試次數(shù)用戶(hù)可以自行定義，zui高次數(shù)可達(dá)10次。 ★ 重復(fù)性：± 0.015 %； ★ 精確度：± 0.02 %； ★ 測(cè)試分辨率：0.00001 g/cm3 公司榮譽(yù) ** 中關(guān)村*協(xié)會(huì)理事單位 中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)會(huì)員單位 北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)理事單位 *受*專(zhuān)家進(jìn)行產(chǎn)品鑒定的企業(yè) 歐盟安全體系認(rèn)定證書(shū) 中國(guó)計(jì)量研究院儀器校準(zhǔn)證書(shū) 北京市可引進(jìn)人才進(jìn)京落戶(hù)單位 公司的核心價(jià)值 發(fā)展；尊重人才與創(chuàng)新；以服務(wù)客戶(hù)為己任。 |
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