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FT110A 微焦斑 XRF 光譜儀 – 測(cè)量 極小目標(biāo)
 

　　FT110A 幫助諸多的行業(yè)確保符 合電鍍規(guī)范，以避免出現(xiàn)性能低 下的風(fēng)險(xiǎn)以及與廢料或返工相關(guān) 的成本。此外，該儀器可減少一 系列測(cè)量所需的時(shí)間，從而幫助 提高生產(chǎn)力。
 

　　在任何質(zhì)量保證或質(zhì)量控制系統(tǒng)中，準(zhǔn)確性和可 靠性均至關(guān)重要，擁有改良的 X 射線熒光技術(shù)的 FT110A將使您的產(chǎn)品滿足高標(biāo)準(zhǔn)的行業(yè)規(guī)范 要求。
 

　　借助更新的成像系統(tǒng)、全新的自動(dòng)測(cè)量定位功能 和大型樣品臺(tái)，確保這臺(tái)鍍層分析儀易于使用并 提高分析效率。
 

　　基于 Windows 系統(tǒng)的 X-ray Station軟件提供直觀 的用戶界面，用戶可對(duì)該儀器進(jìn)行全面控制。通 過(guò)將數(shù)據(jù)直接整合到 Microsoft™ Word 和 Excel 中來(lái)簡(jiǎn)化您的質(zhì)量保證/質(zhì)量控制流程。
 

　　為何如此多的實(shí)驗(yàn)室改 為使用FT110A 微焦斑 XRF 光譜儀?
 

　　快速分析 強(qiáng)大的高靈敏度分析組件可以在數(shù)秒內(nèi)測(cè)量 鍍層厚度和成分。
 

　　無(wú)損 X 射線熒光是無(wú)損分析過(guò)程，不留下任何痕跡。即使是對(duì)敏感性 材料，其測(cè)量也是安全的；同時(shí)無(wú)需丟棄被測(cè)量過(guò)的樣品。
 

　　提高生產(chǎn)力 FT110A 的自動(dòng)化功能意味著您可以更快地準(zhǔn)備和測(cè)量樣品， 從而提高您的分析量。
 

　　多功能性 FT110A 可以分析多達(dá)四層鍍層和基材?？梢允褂没緟?shù) (FP) 或經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)來(lái)測(cè)量鍍層和材料成分(如金屬合金或電鍍液)。
 

　　易于使用 培訓(xùn)可輕松完成，因此任何人都可以操作 FT110A。只需在工作 臺(tái)上設(shè)置樣品，借助友好的界面測(cè)量區(qū)域，然后開始記錄 讀數(shù)。用戶界面可配置為僅顯示日常操作所需的功能。
 

　　兼容性 測(cè)量方法符合標(biāo)準(zhǔn) ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。
 

　　強(qiáng)大性和靈活性
 

　　FT110A 擁有一系列標(biāo)準(zhǔn)功能，能夠以從未有的快速性和簡(jiǎn)便性測(cè)量鍍 層厚度，而操作員可以通過(guò)選擇多種 選項(xiàng)來(lái)對(duì)其進(jìn)行調(diào)整和增強(qiáng)...
 

　　特點(diǎn)
 

　　多準(zhǔn)直器組件 - 0.1 和0.2 毫米雙準(zhǔn)直器是標(biāo)準(zhǔn)配置， 可靈活處理不同尺寸的零件。 廣泛的分析范圍 - 可確定從鈦 (22) 到鈾 (92) 等元素的 鍍層厚度。 校準(zhǔn)和 FP 方法 - 使用經(jīng)驗(yàn)和基本參數(shù)方法來(lái)確定薄膜 厚度和成分。 大型測(cè)量室尺寸 - FT110A 可容納尺寸高達(dá) 500 x 400 x 150 毫米且重量達(dá)到 10 千克的樣品。 一鍵式測(cè)量 - 使用中心搜索功能進(jìn)行簡(jiǎn)化的自動(dòng)測(cè)量意 味著幾乎任何人都可以測(cè)試樣品。
 

　　可選件
 

　　四準(zhǔn)直器組件 - 通過(guò)加入 0.05 毫米和 0.025 x 0.4 毫米 準(zhǔn)直器，F(xiàn)T110A 的多功能性得以顯著提升。 廣視角相機(jī) - 獲取樣品的鳥瞰圖，然后快速放大您選擇 的測(cè)試區(qū)域。 自動(dòng)對(duì)焦功能 - 無(wú)論樣品厚薄或大小如何，F(xiàn)T110A 都 可在幾秒鐘內(nèi)自動(dòng)對(duì)樣品進(jìn)行對(duì)焦。可從遠(yuǎn)至 80 毫米 (3.1 英寸)的距離測(cè)量樣品，非常適合測(cè)量具有凹陷 區(qū)域的零件，或者適用于測(cè)量不同高度的多個(gè)樣品。 圖像處理軟件 - 使用圖案識(shí)別軟件快速的對(duì)復(fù)雜樣品進(jìn) 行分析。操作員只需將測(cè)量區(qū)域放入視域，軟件就會(huì)自 動(dòng)進(jìn)行位置微調(diào)。
 

　　40多年來(lái),日立分析儀器一直走在 X 射線熒光技術(shù)應(yīng)用的前沿，并開發(fā)了全系列的分析儀器。