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BRUKER Dektak 8探針輪廓儀
Dektak 8臺階式探針輪廓儀,結(jié)構(gòu)緊湊,可提供很高的重復(fù)性和精度。的X–Y方向定位系統(tǒng)可移動到8x8inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理,還能測量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點高度、纖維光學(xué)元件和顯微透鏡。全程程序控制的Dektak 8系統(tǒng)對于MEMS,納米技術(shù)和半導(dǎo)體應(yīng)用都非常方便。
主要特點: 1. 臺階高度測量重復(fù)性高 |
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地址:上海市徐匯區(qū)虹漕路39號怡虹科技園區(qū)B座四樓
郵編:200233
聯(lián)系人:吳彩鳳
留言:在線留言
商鋪:http://www.ppmcn.cn/company_b0011156/
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