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　　近些年來(lái)，納米顆粒材料被越來(lái)越廣泛的應(yīng)用于衣食住行等各領(lǐng)域 內(nèi)，由此帶來(lái)的潛在的納米顆粒污染問(wèn)題，逐漸引起了人們的重 視。單顆粒電感耦合等離子體質(zhì)譜(spICP-MS)技術(shù)是近年來(lái)發(fā) 展起來(lái)的可用于進(jìn)行納米顆粒表征的方法。使用此方法，可實(shí)現(xiàn)一 次進(jìn)樣同時(shí)完成顆粒粒徑、數(shù)量濃度、元素含量及粒徑分布的分 析。 隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，spICP-MS技術(shù)，包括硬件以及軟件都得到 了不斷的完善。但目前使用常規(guī)單四級(jí)桿spICP-MS對(duì)樣品中的納 米顆粒進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，仍面臨許多的挑戰(zhàn)。其中，主要的問(wèn)題包 括：1. 在樣品檢測(cè)過(guò)程中，由于進(jìn)樣系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，使得樣品的傳輸 效率較低，通常情況下為總進(jìn)樣量的1%-3%，因此會(huì)導(dǎo)致樣品消 耗量大，同時(shí)在納米顆粒檢測(cè)時(shí)需要延長(zhǎng)采集時(shí)間才能夠獲得足夠 的信號(hào)數(shù)量來(lái)進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，從而造成樣品浪費(fèi)及檢測(cè)效率低的問(wèn) 題。2. 使用傳統(tǒng)單四級(jí)桿spICP-MS檢測(cè)質(zhì)譜干擾較強(qiáng)元素的納米 顆粒時(shí)，由于干擾的原因，會(huì)出現(xiàn)納米顆粒信號(hào)無(wú)法與背景信號(hào)區(qū) 分的情況。在實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中，納米顆粒樣品量通常較小，因此， 在檢測(cè)過(guò)程中，應(yīng)盡量減少樣品消耗。同時(shí)，用戶對(duì)于大量存在的 硅、鐵等天然或人工合成的納米顆粒的檢測(cè)需求較高，所以，為了 克服上述問(wèn)題，高效進(jìn)樣系統(tǒng)與三重四級(jí)桿spICP-MS的組合成為 必然的選擇。 TQ ICP-MS是真正意義上的三重四級(jí)桿ICP-MS，采用雙四級(jí)桿質(zhì) 量選擇器(Q1和Q3)以及四級(jí)桿碰撞反應(yīng)池(Q2)的設(shè)計(jì)，可以 完美實(shí)現(xiàn)上述提到的如硅元素等具有挑戰(zhàn)性的元素的準(zhǔn)確分析定 量。而全新設(shè)計(jì)的單顆粒分析高效進(jìn)樣系統(tǒng)，則可以在實(shí)現(xiàn)微 流(10微升/分鐘)進(jìn)樣的同時(shí)，完成液體樣品的100%進(jìn)樣，節(jié)約 樣品。本研究對(duì)此方法進(jìn)行了初步的摸索。