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AFM原子力顯微鏡可適用于哪些物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope ，AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。
原子力顯微鏡可適用于各種的物品，如金屬材料、高分子聚合物、生物細(xì)胞等，并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境，進(jìn)行不同物性分析，所以AFM 大的特點(diǎn)是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作， 因此，AFM 在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有廣泛的應(yīng)用。根據(jù)針尖與樣品材料的不同及針尖-樣品距離的不同，針尖與樣品之間的作用力可以是原子間斥力、范德瓦爾斯吸引力、彈性力、粘附力、磁力和靜電力以及針尖在掃描時(shí)產(chǎn)生的摩擦力。通過控制并檢測(cè)針尖與樣品之間的這些作用力，不僅可以高分辨率表征樣品表面形貌，還可分析與作用力相應(yīng)的表面性質(zhì)：摩擦力顯微鏡可分析研究材料的摩擦系數(shù)；磁力顯微鏡可研究樣品表面的磁疇分布，成為分析磁性材料的強(qiáng)有力工具；利用電力顯微鏡可分析樣品表面電勢(shì)、薄膜的介電常數(shù)和沉積電荷等。另外，AFM 還可對(duì)原子和分子進(jìn)行操縱、修飾和加工，并設(shè)計(jì)和創(chuàng)造出新的結(jié)構(gòu)和物質(zhì)。
安東帕 Tosca 系列AFM原子力顯微鏡以*的方式將先進(jìn)技術(shù)與高時(shí)效操作相結(jié)合，高度自動(dòng)化被植入到每一級(jí)操作中，使這款 AFM 成為廣大科研和工業(yè)用戶理想的納米技術(shù)分析工具。
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2025第13屆武漢國際科學(xué)儀器與實(shí)驗(yàn)室裝備展覽會(huì)
展會(huì)城市：武漢市展會(huì)時(shí)間：2025-03-20