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【儀器網(wǎng) 行業(yè)應用】冠層分析儀又叫葉面積指數(shù)儀，顧名思義是測定植物冠層結(jié)構(gòu)的儀器。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，測算植物冠層的太陽直射光透過率、葉面積指數(shù)等，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。冠層分析儀可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析;可對農(nóng)田作物群體生長過程進行動態(tài)監(jiān)測;也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領域有關栽培、育種、植物群體對比與發(fā)展的研究與教學。
冠層分析儀在果樹中的應用
葉面積指數(shù)是果樹冠層生物學特征的一個重要參數(shù)，它可以影響果園的產(chǎn)量、品質(zhì)以及光能的截獲，在一定程度上決定了果園的生產(chǎn)效率。測量葉面積指數(shù)的方法有直接測量法和間接測量法，直接測量法具有破壞性，且費時費力、不能重復，操作困難難以測量葉面積的動態(tài)變化等。間接測量法分為相對生長法和光學法，應用比較廣泛。
冠層分析儀就是屬于光學法的，特點是攜帶方便，不需要進行額外的資料處理，可以直接給出葉面積指數(shù)值，原理是在假定植物冠層內(nèi)的各元素隨機分布，依據(jù)冠層間隙度或光學特性反演葉面積指數(shù)。缺點是測量所得葉面積指數(shù)有著較大的偏差。葉片的聚集效應越強，偏差越大。因此在測量時，一般需要用直接法校正。
測量時根據(jù)果園的大小。分別設置3-5個測量點，在每個測量點再分別用方框取樣法和冠層分析法測量葉面積指數(shù)。方框取樣法是將方框隨機放在樹冠上，將方框內(nèi)的的葉片全部摘下，用葉面積儀測量框內(nèi)的葉面積，然后根據(jù)樹冠體積和栽植密度計算葉面積指數(shù)。測點的選擇與冠層分析儀方法相同。
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2025第13屆武漢國際科學儀器與實驗室裝備展覽會
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