直播推薦
更多>企業(yè)動(dòng)態(tài)
更多>- 吉林省力盛制藥有限公司采購(gòu)佳航的顯微熔點(diǎn)儀JHX-5Plus
- 山東金城醫(yī)藥有限公司采購(gòu)佳航的全自動(dòng)密度計(jì)Digipol-D50
- 祝賀2023年全國(guó)機(jī)械行業(yè)職業(yè)技能競(jìng)賽―“三豐杯” 在浙江杭州順利舉行
- 2023年河北省全省無(wú)損檢測(cè)技能比武暨能力對(duì)比 完滿收關(guān)
- 喜訊 | 智易時(shí)代一項(xiàng)發(fā)明獲歐洲發(fā)明授權(quán)!
- 法國(guó)CA 10101E/CA 10141E/CA 10141水質(zhì)分析儀上市
- 東盛友邦(亳州)制藥有限公司采購(gòu)佳航的全自動(dòng)旋光儀Digipol-P610
- 重慶沃肯新材料科技股份有限公司采購(gòu)佳航全自動(dòng)旋光儀JH-P300
推薦展會(huì)
更多> 電位滴定法測(cè)量Zeta電位和PH的關(guān)系
Potentiometric Titrations are useful for determining a sample's IEP. As mentioned above, the IEP may be desirable or otherwise. Potentiometric Titration plots may display plateau regions for Zeta potential vs. pH. Such measurements enable manufacturers to optimize use of acids or bases for transportation and storage. Figure 2 shows a potentiometric titration on a Ludox-TM silica sample by automatic addition of 1N HCl. This titration was performed automatically by a Zeta-APS, Zeta Acoustic Particle Sizer, instrument from Matec Applied Sciences, Northborough, MA USA 3. Figure 2 shows that below pH 4, the Zeta curve approaches a plateau region while Conductivity increases more rapidly. This suggests that the silica particles are becoming saturated with H+ ions as the pH is lowered. Conductivity increases more rapidly as more of these H+ ions stay in the continuous water solvent as opposed to diffusing through the slipping plane toward the particle surface.
電位滴定法可用于測(cè)定樣品的等電點(diǎn)。如上所述,IEP可能是可取的或者相反。電位滴定圖可以顯示Zeta電位與pH值之間的關(guān)系變化。這樣的測(cè)量使制造商通過(guò)酸或堿的使用,優(yōu)化產(chǎn)品的運(yùn)輸和儲(chǔ)存。圖2顯示在Ludox TM二氧化硅樣品上自動(dòng)添加1N HCl時(shí),Zeta電位及電導(dǎo)率的變化。該過(guò)程是由美國(guó)MAS公司生產(chǎn)的超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀Zeta-APS設(shè)備完成的。圖2顯示,在pH<4時(shí),Zeta曲線接近一個(gè)穩(wěn)定區(qū)域,而電導(dǎo)率增加得更快。這表明,隨著pH值的降低,二氧化硅顆粒逐漸被H+離子飽和。當(dāng)更多的H+離子停留在連續(xù)的水溶劑中時(shí),電導(dǎo)率增加得更快,而不是通過(guò)滑面向顆粒表面擴(kuò)散。
圖2通過(guò)自動(dòng)電位滴定法將1N HCl加入到10%體積的Ludox TM二氧化硅溶液中
Figure 2. Automatic potentiometric titration of 10%-vol Ludox-TM by 1N HCl addition.
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來(lái)源:儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來(lái)源:儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來(lái)源(非儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來(lái)源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問(wèn)題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
第62屆中國(guó)高等教育博覽會(huì)
展會(huì)城市:重慶市展會(huì)時(shí)間:2024-11-15