安捷倫半導體無機元素分析概覽
關鍵詞：半導體 元素分析
概述：ICP-MS作為一種金屬元素分析儀器應用于半導體產(chǎn)業(yè)鏈，始于20世紀80年代。隨著半導體制程的不斷迭代，整個行業(yè)對ICP-MS的性能提出了越來越高的要求。過去30年來，位于日本東京的安捷倫ICP-MS全球研發(fā)中心與半導體產(chǎn)業(yè)鏈端客戶密切合作，指引著ICP-MS在全球半導體產(chǎn)業(yè)鏈中的應用不斷創(chuàng)新。
ICP-MS 作為一種金屬元素分析儀器應用于半導體產(chǎn)業(yè)鏈，始于 20 世紀 80 年代。隨著半導體制程的不斷迭代，整個行業(yè)對 ICP-MS 的性能提出了越來越高的要求。過去 30 年來，位于日本東京的安捷倫 ICP-MS 全球研發(fā)中心與半導體產(chǎn)業(yè)鏈端客戶密切合作，指引著 ICP-MS 在全球半導體產(chǎn)業(yè)鏈中的應用不斷創(chuàng)新。
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