使用高效進樣系統(tǒng)進行單納米顆粒樣品檢測
關(guān)鍵詞：二氧化硅納米顆粒 樣品檢測
概述：近些年來，納米顆粒材料被越來越廣泛的應(yīng)用于衣食住行等各領(lǐng)域內(nèi)，由此帶來的潛在的納米顆粒污染問題，逐漸引起了人們的重視。單顆粒電感耦合等離子體質(zhì)譜（spICP-MS）技術(shù)是近年來發(fā)展起來的可用于進行納米顆粒表征的方法。使用此方法，可實現(xiàn)一次進樣同時完成顆粒粒徑、數(shù)量濃度、元素含量及粒徑分布的分析。
隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，spICP-MS技術(shù)，包括硬件以及軟件都得到 了不斷的完善。但目前使用常規(guī)單四級桿spICP-MS對樣品中的納米顆粒進行檢測時，仍面臨許多的挑戰(zhàn)。其中，主要的問題包 括：1. 在樣品檢測過程中，由于進樣系統(tǒng)的設(shè)計，使得樣品的傳輸 效率較低，通常情況下為總進樣量的1%-3%，因此會導致樣品消 耗量大，同時在納米顆粒檢測時需要延長采集時間才能夠獲得足夠 的信號數(shù)量來進行數(shù)據(jù)統(tǒng)計，從而造成樣品浪費及檢測效率低的問 題。2. 使用傳統(tǒng)單四級桿spICP-MS檢測質(zhì)譜干擾較強元素的納米 顆粒時，由于干擾的原因，會出現(xiàn)納米顆粒信號無法與背景信號區(qū) 分的情況。在實際檢測過程中，納米顆粒樣品量通常較小，因此， 在檢測過程中，應(yīng)盡量減少樣品消耗。同時，用戶對于大量存在的 硅、鐵等天然或人工合成的納米顆粒的檢測需求較高，所以，為了 克服上述問題，高效進樣系統(tǒng)與三重四級桿spICP-MS的組合成為 必然的選擇。 TQ ICP-MS是真正意義上的三重四級桿ICP-MS，采用雙四級桿質(zhì) 量選擇器（Q1和Q3）以及四級桿碰撞反應(yīng)池（Q2）的設(shè)計，可以實現(xiàn)上述提到的如硅元素等具有挑戰(zhàn)性的元素的準確分析定 量。而全新設(shè)計的單顆粒分析專用高效進樣系統(tǒng)，則可以在實現(xiàn)微 流（10微升/分鐘）進樣的同時，完成液體樣品的100%進樣，節(jié)約 樣品。本研究對此方法進行了初步的摸索。
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