TX 2000 全反射X熒光光譜儀，由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，可以zui大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生，同時減小了載體的背景和噪聲“。

　　全反射X熒光光譜儀應(yīng)用范圍
　　
　　TX2000 可檢測從Na到Pu所有元素含量，可進行痕量或超痕量元素分析（ppt或pg），廣泛的應(yīng)用在環(huán)境分析（水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物），制藥分析（生物體液和組織樣品中的有害元素），法醫(yī)學（微小證據(jù)分析），化學純度分析（酸、堿、鹽、溶劑、水、超純試劑），油品分析（原油、輕質(zhì)油、燃料油），染料分析（墨水、油漆、粉末），半導體材料分析（揮發(fā)相分解），核材料工業(yè)（放射性元素分析）。
　　
　　主要特點
　　
　　■ 單內(nèi)標校正，極大的簡化了定量分析，無基體影響；
　　
　　■ 對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析；
　　
　　■ 多元素實時分析，可進行痕量和超痕量分析；
　　
　　■ 不受樣品的類型和不同應(yīng)用需求影響；
　　
　　■ *的液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量?。?br />　　
　　■ you秀的檢出限水平，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚；
　　
　　■ 出色的動態(tài)線性范圍；
　　
　　■ 無需任何化學前處理，無記憶效應(yīng)；
　　
　　■ 非破壞性分析，運行成本低廉。