MicroNano® D5A系列產(chǎn)品特點(diǎn)介紹
選擇一款掃描探針顯微鏡，您應(yīng)該從以下幾方面考評(píng)技術(shù)性能：
一、 核心要求
1. 根據(jù)您現(xiàn)階段的工作需要，選擇功能模塊（決定了價(jià)格）
2. 驗(yàn)證儀器綜合分辨率水平（SPMzui核心關(guān)鍵指標(biāo)）
重要提醒：分辨率指標(biāo)是一項(xiàng)和掃描器量程關(guān)聯(lián)的綜合性指標(biāo)
您應(yīng)該了解清楚zui大量程的那個(gè)掃描器的分辨率指標(biāo)（如果廠家提供多個(gè)掃描器的話）
3. 了解樣品移動(dòng)定位的措施，是否能保障樣品無(wú)盲點(diǎn)，精確移動(dòng)到任意您想成像的區(qū)域
如果不能首先解決樣品移動(dòng)定位的問(wèn)題，SPM的工作將無(wú)法有效進(jìn)行，再高的分辨率也是空談，因?yàn)槟赡苷也坏侥胗^測(cè)的區(qū)域！
二、 其它要求
4. 是否能夠根據(jù)特殊的科研要求提供儀器改造服務(wù)？
5. 是否能夠設(shè)計(jì)更加人性化，使操作更加方便？
我們?yōu)槟峁┑?/span>SPM功能模塊如下,供您自由搭配選型. 詳細(xì)指標(biāo)及其他資料請(qǐng)咨詢(xún)銷(xiāo)售顧問(wèn).
1.掃描隧道顯微鏡模塊（STM）：用于獲取導(dǎo)電樣品表面納米尺度的形貌像；
包含：恒高/恒流模式
2.原子力顯微鏡模塊（AFM）：用于獲取樣品表面納米尺度的形貌像及其相關(guān)信息；
包含：接觸模式/起伏力/側(cè)向力；輕敲模式/起伏力/側(cè)向力/振幅/相位。
3.超級(jí)曲線測(cè)量模式：可任意設(shè)置所有AD作為Y信號(hào)，所有DA作為X信號(hào)進(jìn)行曲線掃描，如I-V、I-Z、力-距離、振幅-距離、頻率-相位、相位-距離、頻率-振幅 等等曲線。
4.納米加工模塊：刻蝕模式（電刻蝕/力刻蝕/DPN（選配）），刻蝕軌跡（矢量式/圖形式）
5.高速精密電控樣品移動(dòng)平臺(tái)：計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制電控馬達(dá)進(jìn)行精確樣品移動(dòng)和定位，zui小步進(jìn)50nm，移動(dòng)范圍5*5mm?？稍贑CD視頻界面或SPM圖像掃描界面，直接用鼠標(biāo)拖動(dòng)待測(cè)區(qū)到目標(biāo)位置，計(jì)算機(jī)控制移動(dòng)平臺(tái)自動(dòng)定位。
6.高分辨彩色CCD光學(xué)觀測(cè)系統(tǒng)：在計(jì)算機(jī)上成像，用于觀察探針和樣品，放大倍數(shù)80-600倍，視場(chǎng)1.6mm，配套控制及成像軟件。
7.膜厚/臺(tái)階測(cè)量模塊：用臺(tái)階掃描的方式確定膜厚、臺(tái)階高度等，曲線很直觀的反映出掃描過(guò)程中膜和襯底特定位置的高度。只有配套電控樣品移動(dòng)平臺(tái)才能精確移動(dòng)到臺(tái)階位置。
8.摩擦力顯微鏡（LFM）：可定量評(píng)價(jià)極輕載荷下（10-7--10-9N）薄膜材料的摩擦學(xué)特性?？捎?/span>對(duì)分模式準(zhǔn)確標(biāo)定微懸臂與掃描方向的角度；可連續(xù)改變正壓力進(jìn)行測(cè)量；可同時(shí)測(cè)到樣品起伏、針尖所受的起伏力、橫向力；可獲取微觀摩擦系數(shù)。
9.減振系統(tǒng)：懸掛式減振，減振效果優(yōu)于1Hz，是儀器達(dá)到原子分辨的有效保證。
以下10-20項(xiàng)的功能模塊請(qǐng)根據(jù)您的研究方向自由選配
10.磁力顯微鏡（MFM）：獲得樣品納米尺度局域上形貌像和與其對(duì)應(yīng)的磁疇結(jié)構(gòu)及分布圖。
11.靜電力顯微鏡（EFM）：獲得樣品納米尺度局域上形貌像和與其對(duì)應(yīng)的靜電場(chǎng)分布圖；
12.掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡：在針尖和樣品之間施加直流和交流兩種電壓，應(yīng)用鎖相放大技術(shù)可以獲得樣品表面的功函數(shù)變化和表面形貌像。
13.掃描電容顯微鏡：利用電壓調(diào)制技術(shù)來(lái)偵測(cè)材料表面電容微小變化。
14.導(dǎo)電原子力顯微鏡（C-AFM）：獲得樣品納米尺度局域上形貌像和與其對(duì)應(yīng)的電流像；通過(guò)對(duì)偏壓進(jìn)行調(diào)制，可得到樣品表面局域I-V曲線等信息。并可實(shí)現(xiàn)電壓刻蝕。
15.液相/氣氛AFM：封閉式探針-樣品體系，可充液體或氣氛，實(shí)現(xiàn)液相/氣氛AFM多種成像模式，適用于生物樣品，而且對(duì)克服毛細(xì)力和消除靜電也有顯著的作用。
由于密閉區(qū)域只有探針-樣品區(qū)域，因此可充具有一定腐蝕性的氣體或液體，而且可以很快地更換，殘留少?？赏瑫r(shí)注入兩種液體/氣體，實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)更換，并隨時(shí)改變各自的注入量。
可選配增強(qiáng)模式：在該系統(tǒng)中zui多增加3個(gè)外部電極，供用戶(hù)擴(kuò)展應(yīng)用范圍?？膳c電化學(xué)控制系統(tǒng)聯(lián)用，構(gòu)成電化學(xué)SPM。
16.樣品加熱臺(tái)：控溫范圍 室溫～150℃；精度0.5℃，*設(shè)計(jì)的樣品冷卻系統(tǒng)，使降溫控制更加快速準(zhǔn)確。樣品臺(tái)直徑30mm，加熱臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)絕熱層的巧妙設(shè)計(jì)，可有效抑制熱飄移現(xiàn)象對(duì)成像質(zhì)量的影響。可選配250℃高溫模式。
17.壓電力顯微鏡（PFM）：于研究壓電、鐵電材料納米尺度的壓電響應(yīng)特征。
可選針尖加高壓模式：電壓范圍-150V--150V
