EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現(xiàn)降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據(jù)不同樣品從開始測試到得到結(jié)果所需測試時間基本上可在1分鐘內(nèi)完成，所以*可以應對RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析。

儀器簡介：

EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現(xiàn)降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據(jù)不同樣品從開始測試到得到結(jié)果所需測試時間基本上可在1分鐘內(nèi)完成，所以*可以應對RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析。另外，zui近幾年在眾多企業(yè)中實施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時*該裝置作為中國版RoHS第二階段應對手段。

技術(shù)參數(shù)：

主要規(guī)格 
測定原理——X射線熒光分析法 
測定方法以——能量色散型 
測定對象——固體、液體、粉狀 
測定范圍——13Ai～92U 
樣品室尺寸——zui大W370mm*D320mm*H155mm 
X射線發(fā)生部 
X射線管——Rh靶 
電壓——5—50KV 
電流——1-1000uA 
冷卻方式——風冷（附風扇） 
照射面積——3、5、10mmю；自動交換 
1次濾光片——5種+OPEN自動交換 
檢測器 
類型——Si-PIN半導體檢測器 
制冷方式——電子制冷 
計數(shù)方式——數(shù)字濾光片計數(shù)處理 
樣品室 
測定環(huán)境——大氣 
樣品觀察——半導體照相機 
數(shù)據(jù)處理部 
主機——IBM PC/AT互換機 
內(nèi)存——512MB以上 
HDD——40GB以上 
分辨率——1024*768點以上 
打印機——彩色噴墨打印機 
CD——CD-ROM驅(qū)動 
OS——WindowsVista 
軟件 
篩選分析——簡單操作軟件 
定性分析——測定●解析軟件 
定量分析——工作曲線 
應用性——自動校正功能（能量校正、半峰寬校正） 
其他——裝置狀態(tài)監(jiān)視楞能 
分析結(jié)果建表功能 
分析結(jié)果報告書創(chuàng)建功能 
環(huán)境設(shè)置 
                         性能保證范圍 
溫度條件——10℃～30℃（溫度變化在2℃以內(nèi)） 
濕度條件——40%～70%（不結(jié)露） 
電源——AV100v～240v±，2A，帶地線插座 
外圍設(shè)備（打印機、PC、顯示器等）的電源需要另行配備

主要特點：

深入淺出
●利用【篩選分析】畫面，操作簡單方便
●從主成分判定到條件選擇全部實現(xiàn)自動處理
裝備所有必要功能
●標準裝備了Rosh/ELV分析所需的必要功能
●擁有大容量樣品室，因此可以直接測定大型樣品
使Rosh/ELV的篩選更簡單
●日常維護量減少（無需液氮）
●配備保護功能，限制條件或數(shù)據(jù)的變更
●配備篩選輕松設(shè)定功能，能夠根據(jù)管理方法輕松自定義