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梅特勒XSE104

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 深圳市盛美儀器有限公司
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廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2025/3/2 9:44:44
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特價說明：

促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價促銷

模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

萬分之一/0.0001g產(chǎn)品名稱：梅特勒分析天平XSE104產(chǎn)品：梅特勒XSE系列產(chǎn)品型號：XSE104產(chǎn)品規(guī)格：120g/0.1mg產(chǎn)品價格：0.00 產(chǎn)品詳細(xì)介紹

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產(chǎn)品介紹

萬分之一/0.0001g

產(chǎn)品名稱：	梅特勒分析天平XSE104
產(chǎn)品：	梅特勒XSE系列
產(chǎn)品型號：	XSE104
產(chǎn)品規(guī)格：	120g/0.1mg
產(chǎn)品價格：	0.00

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

XSE104梅特勒子分析天平特點：

StatusLight™ – 天平就緒

StatusLight 通過顏色直觀指明天平的狀態(tài)。綠色表示就緒，黃色表示警告，紅色表示錯誤。清晰顯示的燈光表明天平是否已準(zhǔn)備好開始執(zhí)行稱量任務(wù)。

消除荷—樣品無憂

一體化去靜裝置固定到天平側(cè)面，緩慢高效去除靜荷，而不會導(dǎo)致稱量室內(nèi)干擾。結(jié)果更加準(zhǔn)確，并可避免交叉污染。

RFID 解決方案

Smart Tag RFID 標(biāo)簽可實現(xiàn)滴定樣品信息安全從天平輸至滴定儀。SmartScan™在帶有標(biāo)記的移液器上檢查測試和校準(zhǔn)日期。內(nèi)置的應(yīng)用程序向?qū)⒅笇?dǎo)您完成移液器檢查過程。

XSE 分析天平非常努力工作

XSE 分析天平提供的稱量性能和以及符合人體工程學(xué)設(shè)計，是各種工作場可靠的解決方案。

創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈 (StatusLight) 可免除您在稱量方面的擔(dān)憂。清晰可見的綠色指示燈讓您知道何時開啟安全，有的測試都始終保持新，天平水平且功能正常。

XSE 天平配備各種選件和多個連接選項，適用于不同的稱量應(yīng)用。

瑞士設(shè)計與制造，的品質(zhì)值得您信賴。

LabX – 稱量過程盡在掌握

LabX 實驗室軟件提供關(guān)于天平觸摸屏的靈活的SOP 用戶向?qū)?。自動?shù)據(jù)處理、計算和生成報告，避免抄寫誤差并確?？勺匪菪?。

XSE104梅特勒子分析天平產(chǎn)品特性

的結(jié)果

高分辨率技術(shù)

內(nèi)部校正和靈敏度測試

加載 5% 時的重復(fù)性，10 µg

高效的操作

彩色觸摸屏

采用 11 種語言的用戶界面

易巧稱量件 (ErgoClip) 用于直接加樣

易于清潔

懸掛式格秤盤 (SmartGrid)

動態(tài)圖形顯示 (SmartTrac) 指導(dǎo)的加樣至目標(biāo)

稱量保證

圖形化水平控制系統(tǒng)和分級別警告小稱量值 (MinWeigh) 保護(hù)測試管理器FACT 和 GWP 歷史與用戶及密碼保護(hù)

狀態(tài)指示燈 (StatusLight)

無縫過程

LabX 就緒

RFID 通信就緒

一體化去靜裝置就緒

內(nèi)置 RS232 接口

第 2 接口選件插槽

XSE104 梅特勒子分析天平選配件

去靜裝置

一體化去靜裝置可中和樣品和容器上的靜荷，并且結(jié)構(gòu)緊湊（內(nèi)置在天平內(nèi)部）。

易巧稱量組件 (ErgoClips)直接加樣至您的容器中。ErgoClips 在您的天平上固定一系列不同外形的容器。

Smart Tag RFID 標(biāo)簽

從您的天平通過滴定杯安全輸?shù)味悠沸畔ⅰ?/span>

打印機(jī)

堅固耐用的 P-50 系列實驗室打印機(jī)在紙上進(jìn)行具有存檔質(zhì)量的打印輸出和連續(xù)剝離標(biāo)簽。

EasyScan™

在帶有射頻識別 (RFID) 標(biāo)記的移液器上檢查測試和校準(zhǔn)日期。當(dāng)通過天平應(yīng)用進(jìn)行測試時，記錄新的測試日期。

XSE104 梅特勒子分析天平技術(shù)參數(shù)：

極限值	XSE105DU	XSE104	XSE205DU	XSE204
大稱量值	120 g	120 g	220 g	220 g
可讀性	0.1 mg	0.1 mg	0.1 mg	0.1 mg
可讀性，精細(xì)量程	0.01 mg	–	0.01 mg	–
皮重范圍（從 …至）	0 … 120 g	0 … 120 g	0 … 220 g	0 … 220 g
大稱量值，精細(xì)量程	41 g	–	81 g	–
重復(fù)性 (sd) (加載處)	0.1 mg (100 g)	0.1 mg (100 g)	0.1 mg (200 g)	0.1 mg (200 g)
重復(fù)性 (sd)（5%加載）	0.02 mg	0.07 mg	0.02 mg	0.07 mg
線性誤差	0.2 mg	0.2 mg	0.2 mg	0.2 mg
偏載誤差（加載處）1	0.3 mg (50 g)	0.3 mg (50 g)	0.3 mg (100 g)	0.3 mg (100 g)
靈敏度漂移（校驗砝碼）2	0.8 mg (100 g)	1 mg (100 g)	0.8 mg (200 g)	1 mg (200 g)
靈敏度溫度漂移	0.00015%/°C	0.00015%/°C	0.00015%/°C	0.00015%/°C
靈敏度穩(wěn)定性 3	0.0002%/a	0.0002%/a	0.0002%/a	0.0002%/a
典型值
重復(fù)性 (sd)（5%加載）	0.01 mg	0.04 mg	0.01 mg	0.04 mg
線性誤差	0.13 mg	0.13 mg	0.13 mg	0.13 mg
偏載誤差（加載處）1	0.15 mg (50 g)	0.15 mg (50 g)	0.16 mg (100 g)	0.16 mg (100 g)
靈敏度漂移（校驗砝碼）1	0.4 mg (100 g)	0.6 mg (100 g)	0.6 mg (200 g)	0.8 mg (200 g)
小稱量值（5%加載，符合 USP）	20 mg	80 mg	20 mg	80 mg
小稱量值（5%加載，k=2，U=1%）	2 mg	8 mg	2 mg	8 mg
穩(wěn)定時間	1.5 s	1.5 s	1.5 s	1.5 s
穩(wěn)定時間，精細(xì)量程	3 s	–	3 s	–