粗糙度儀測量平臺TA610/TA620/TA650適用于TR系列粗糙度儀。

粗糙度儀測量平臺TA610

• 齒條升降，立柱可以隨意轉(zhuǎn)動，用來
  測量不容易放置的工件，可提高測量精度
• 花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm
• 花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm
• 垂直升降高度：270mm
• 垂直升降微調(diào)量：20mm
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  TA620

  • 絲桿升降，平臺上設(shè)置V型槽，用來測
    量形狀較小的工件，可提高測量精度
  • 花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm
  • 花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm
  • 垂直升降高度：300±1mm
  • 升降回程誤差：≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈
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    TA650|TR300專用

    • 垂直方向上的升降高度：300±1mm
      微調(diào)由儀器上的可調(diào)支架完成
    • 垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度：±45°
    • 回程誤差：不大于手輪的1/6圈
    • 平臺的平面度：00級|平面公差值3μm
    • 平臺尺寸：600×420×80 mm
    • 總高度：695 mm
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