產品概念：超聲波掃描顯微鏡USAM-30用于對材料科學半導體行業(yè)等相應產品的內部缺陷檢測,利用超高速線性馬達運動系統(tǒng)，帶動高頻，對產品進行水浸C掃描檢測,全波列采集超聲波信號，利用成像算法和數據圖像處理功能,對產品內部的缺陷進行有效識別,得到內部清晰圖像,并統(tǒng)計分析缺陷位置、形狀和尺寸,生成自定義報告。

機械部分：1、xy軸采用線性伺服動力系統(tǒng)，內置磁懸浮機構;2、采用無鐵芯結構，保證運行過程中的速度穩(wěn)定性;3、z軸行程大于100毫米，z軸可自動對焦;4、掃描范圍:300mmX300mm (可根據需求拓展掃描區(qū)域)5、掃描速度:1500mm/s，重復精度士0.1um;6、水槽標準尺寸:600mmX700mmX170mmH (水槽尺寸可定制);

超聲部分：1、DPR300手動/自動一體，接收器帶寬60MHz;2、**激發(fā)電壓:475V;3、高通/低通濾波各6組，16個阻尼設置，脈沖能量和阻抗可調:4、脈沖重復頻率5KHz;5、80db接收增益范圍;6、A/D采樣頻率:1GHz(2G/3G選配);

軟件界面：

1、界面跟蹤消除產品本身曲率及檢測過程中產品晃動的誤差;2、多種特征成像方式(幅值成像、時間成像、相位成像、FFT成像、切片成像、多閘門聯合成像等);3、區(qū)域重掃和缺陷定位，還原被檢工件的形狀和缺陷的大小;4、檢測產品數據庫管理，結果清晰，一鍵生成報告;5、掃查軸和步進軸可任意切換，掃描間隔可無極調節(jié) (0.01~1mm);6、具備圖像放大縮小功能，能清晰的展現出缺陷邊緣狀態(tài)，方便缺陷尺寸測量、統(tǒng)計與分析;