當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)顯微鏡>熒光顯微鏡> 光發(fā)射顯微鏡
返回產(chǎn)品中心>光發(fā)射顯微鏡
參考價(jià) | 面議 |
- 公司名稱 深圳市納科電子有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 深圳市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/12/9 16:21:46
- 訪問次數(shù) 8
當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)顯微鏡>熒光顯微鏡> 光發(fā)射顯微鏡
返回產(chǎn)品中心>參考價(jià) | 面議 |
Advance是中國臺(tái)灣有名的光發(fā)射顯微鏡制造商,核心技術(shù)來自日本的Hamamatsu,其原理是利用光子輻射來探測,快速找到失效的缺陷部位;主要應(yīng)用于:集成電路元器件失效分析、無損失效分析、細(xì)微缺陷探測
Advance是中國臺(tái)灣有名的光發(fā)射顯微鏡制造商,核心技術(shù)來自日本的Hamamatsu,其原理是利用光子輻射來探測,快速找到失效的缺陷部位;主要應(yīng)用于:集成電路元器件失效分析、無損失效分析、細(xì)微缺陷探測。
1. EMMI光發(fā)射顯微鏡是一種效率的失效分析工具,提供高靈敏度非破壞性的故障定位方式,可偵測和定位非常微弱的發(fā)光(可見光及近紅外光),捕捉各種元件缺陷或異常所產(chǎn)生的漏電流可見光;
2. EMMI偵測對(duì)應(yīng)故障種類涵蓋ESD、Latch up、I/O Leakage、Junction Defect、Hot Electrons、Oxide Current Leakage等所造成的異常;
3. EMMI對(duì)漏電流的偵測可達(dá)微安級(jí)別。
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個(gè)人信息: