MicroTEQ-R1顯微光譜測量系統(tǒng)，采用高精度微區(qū)光路平臺，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實現(xiàn)了共焦拉曼*測量功能

MicroTEQ-R1 顯微光譜測量系統(tǒng)，采用高精度微區(qū)光路平臺，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實現(xiàn)了共焦拉曼*測量功能。幫助用戶快速的對樣品微觀結構，光譜信息進行測試和分析，大大的降低了微觀測試的復雜程度。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro，在提供高質量信號質量的同時，保證了測試效率。精密光路設計能夠實現(xiàn)1um*級別的聚焦光斑和探測區(qū)域，系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊，實現(xiàn)75cm-1的探測范圍。

*注: 使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內的小孔(Pinhole)；1um光斑需加配100X物鏡。