HAST非飽和加速壽命試驗箱--產(chǎn)品用途

　　用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定

HAST非飽和加速壽命試驗箱--結構特點
設備特點：
1、優(yōu)化設計，美觀大方，做工精細。
2、對應IEC60068-2-66條件，具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器。
3、采用7寸真彩式觸摸屏，擁有200組12500段程序，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口。
4、采用高效壓力倉，使箱內達到純凈飽和蒸汽狀態(tài)。
5、具有緩解壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結束后壓力溫度的急變，保證試驗結果的正確。
6、多項安全保護措施，故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。
7、HAST高壓加速老化試驗機可根據(jù)客戶產(chǎn)品定制專用產(chǎn)品架。
規(guī)范要求：
1、HAST高壓加速老化試驗機內膽采用圓弧設計，符合國家安全容器標準，可以防止試驗結露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
2、配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架，也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費量身定制專用產(chǎn)品架。
3、標準配備8條試驗樣品信號施加端子，也可以根據(jù)需要增加端子數(shù)量，最多可提供55條偏壓端子。
4、具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)。
HAST加速壽命試驗箱--符合標準
IEC 60068-2-66-1994環(huán)境試驗第2-66部分:試驗方法試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD 22-A102-B加速抗潮性.非偏離的高壓滅菌器
EIAJED4701
EIA/JESD22

GB/T 2423.40-2013環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

HAST加速壽命試驗箱--規(guī)格與技術參數(shù)

型號(CM)		ETE-HAST	ETE-HAST	ETE-HAST	ETE-HAST
工作室尺寸(Φ*D)mm		Φ300*450	Φ400*550	Φ500*650	Φ750*900
功率		3.5(KW)	4.6(KW)	5.5(KW)	8.5KW
性能 指標	溫度范圍	105℃ ~ 132℃
	溫度波動	≤±0.5℃
	溫度均勻度	≤±2.0℃（恒定時）
	溫濕度壓力范圍	75%RH ~ 99%RH
	壓力范圍	A:0 ~ 0.2MPa    B:0 ~ 0.3MPa    C:0 ~ 0.4MPa
	濕度均勻度	≤±3.0%RH（恒定時）
	樣品區(qū)承重	20kg	20kg	20kg	20kg