冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，優(yōu)尼克生產(chǎn)的YNK/2CJ系列既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用

冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，優(yōu)尼克生產(chǎn)的YNK/2CJ系列既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛使用于航空航天、單位、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可信賴性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，同時(shí)可通過此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
設(shè)備特點(diǎn)
提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移，采用氣動(dòng)控制，轉(zhuǎn)換時(shí)間短，溫度恢復(fù)時(shí)間短，溫變速度快，設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，采用兩箱法，提高了工作室的溫度均勻性，但試件一直處于動(dòng)態(tài)，工作室不能留有測(cè)試孔，因此不能帶電、帶信號(hào)、帶氣源測(cè)試
新一代外觀設(shè)計(jì)，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn)，技術(shù)指標(biāo)更加穩(wěn)定，運(yùn)行更好，維護(hù)更方便，備有好的萬(wàn)向滾輪，方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)。
超大觸摸屏操作，外觀更加簡(jiǎn)潔大方，操作更加容易，設(shè)定值實(shí)際值實(shí)時(shí)顯示。
真空雙層玻璃：大視窗設(shè)計(jì)，飛利浦高亮度照明，加熱無(wú)霧氣
為編程和文檔處理提供更多的接口選項(xiàng)，記錄量大：SD卡儲(chǔ)存，USB輸出，電腦連接打印，大倉(cāng)有紙無(wú)紙記錄等選配
可信賴性高：主要配件選配專業(yè)廠商，確保提高整機(jī)可信賴性

實(shí)時(shí)監(jiān)控

執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)
GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)
其他
環(huán)境溫度：(環(huán)境溫度+5~+25℃)
安全：短路保護(hù)、超溫保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、漏電保護(hù)、相序缺相保護(hù)、操作人員安全保護(hù)、試件保護(hù)
附件標(biāo)準(zhǔn)配置
照明燈：LED照明
移動(dòng)腳輪：4
通訊：SD卡/USB/CF/以太網(wǎng)，按儀表選配