為了仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。 ◆ 可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能 ◆ 等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃(40℃) ◆ 滿(mǎn)足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求 ◆ 采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行 ◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時(shí)完成 ◆ 通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能 ◆ 感測(cè)器放置測(cè)試區(qū)出（回）風(fēng)口符合實(shí)驗(yàn)有效性 ◆ 機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè)，配置無(wú)線遠(yuǎn)程報(bào)警功能 1.GB/T 10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 2.GB/T 11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 4.GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法 5.GB/T 2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法 6.GB/T 2423.22-2002試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法 7.GJB150.3-1986高溫試驗(yàn) 8.GJB150.4-1986低溫試驗(yàn) 滿(mǎn)足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求 | 產(chǎn)品&規(guī)范 | 廠商名稱(chēng) | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán)時(shí)間 | 備注 | | MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | —— | | MIL-344A-4-16
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— | | MIL-2164A-19
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | —— | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度10℃時(shí) | | NABMAT-9492
美軍制造篩選 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度5℃時(shí) | | GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 | | GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 | | 筆記本電腦 | 主板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— | | Models | BYR-A | BYR-B | BYR-C | BYR-D | | Inside Dimensions
W x D x H cm | 40X35X35 | 50X50X40 | 60X50X50 | 70X60X60 | | Outside Dimensions
W x D x H cm | 140X165X165 | 150X200X175 | 160X225X185 | 170X260X193 | | Precool/Preheat Range | -00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃ | | Shocking Range | -10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃ | | Time Range | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | | Resolution | 0.01℃/min | | Temperature Uniformity | ±3.00℃以?xún)?nèi)（under℃3.00℃） | | Range of temperature variation(℃/min) | +5℃～+30℃/min(+40℃) | | (Three boxes)range of box brushing | -65℃～+150℃ ±2.00℃以?xún)?nèi)(under ±2.00℃) | | (Two boxes)range of box brushing | -55℃～+150℃ ±2.00℃以?xún)?nèi)(under ±2.00℃) | * 以上規(guī)格僅供參考，如有變更不另行通知。 ◎ 查看試驗(yàn)條件 ◎ 查看RAMP試驗(yàn)溫變率列表 | TSR(斜率可控制)
[5℃～30 ℃/min]
| 
| | | | 30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn) | | 28℃/min→ | LED汽車(chē)照明燈 | | 25℃/min→ | PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn)、測(cè)試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng) | | 24℃/min→ | 光纖連接頭 | | 20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測(cè)試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測(cè)試方法、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號(hào) 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命 | | | | 17℃/min→ | MOTO | | 15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測(cè)試(家電、計(jì)算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車(chē)引擎蓋下環(huán)境) | | 11℃/min→ | 無(wú)鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測(cè)試、芯片級(jí)封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | | 10℃/min→ | 通用汽車(chē)、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測(cè)試 | | 5℃/min→ | 錫須溫度循環(huán)試驗(yàn) | | | |  |
Low Temperature
#3=-40℃-125℃
#4=-55℃-125℃
Lnner dimension:(W*D*H)
A=40*35*30cm
B=50*40*40cm
C=60*50*50cm
D=70*60*60cm
E=USTOMER SIZE
應(yīng)力篩選型冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)系列
BAOYT test equipment co.,ltd
| 注：溫濕度分布均度測(cè)試方法依照內(nèi)箱離各邊1/10距離有效空間量測(cè)(GB5170.18-57) 
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