兩箱式溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制

兩箱式溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

采用上下兩箱（上箱高溫、下箱低溫），中間為提藍(lán)，就是可以放置樣品的地方，提藍(lán)通過傳動(dòng)裝置上下切換，在高低溫兩箱中進(jìn)行快速轉(zhuǎn)換。

適用標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗(yàn)方法Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb

GB/T2423.22-2002(IEC60068-2-14:1984) 試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化

GJB 150.3-1986   高溫試驗(yàn)

GJB 150.4-1986   低溫試驗(yàn)

GJB 150.5-1986   溫度沖擊試驗(yàn)