使用設(shè)備該三綜合試驗箱適用于各種產(chǎn)品的部件和材料適應(yīng)性測試

使用設(shè)備

      該三綜合試驗箱適用于各種產(chǎn)品的部件和材料適應(yīng)性測試。電器、儀表、部件、電子、電工、汽車、航空、移動通信、塑料制品、機械、硬件工具等，可在各研究所和企業(yè)事業(yè)單位實驗室進行可靠性、耐久性測試。

三綜合試驗箱的結(jié)構(gòu)。

三綜合試驗箱的柜體采用數(shù)控機床加工成型，外形美觀，無反作用柄，操作簡單。

內(nèi)膽和外膽均采用的SUS304不銹鋼拉絲箱，外膽均采用的SUS304不銹鋼拉絲箱或A3鋼板噴塑成型，表面紋理清晰，潔凈度高。

三綜合試驗箱的照明觀察箱保持明亮，利用加熱體嵌入強化玻璃，隨時觀察箱內(nèi)的明暗。

三綜合試驗箱左側(cè)有直徑50mm或100mm的檢測孔，可用于檢測電源或信號線的外部連接。

控制器(controller)

冷凍及風路循環(huán)系統(tǒng)（Refrigeration and air circulation system）

型號規(guī)格Model and specification

經(jīng)國家環(huán)境試驗設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢測中心檢測，符合“環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)條件”系列國家標準中的：

GB/T2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》  試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》  試驗B：高溫試驗方法

GB/T2423.3—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》  試驗Cab:恒定濕熱試驗方法

GB/T2423.4—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗Db：交變濕熱試驗方法

GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則

GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試驗方法

GJB150.4（MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GJB150.9 (MIL-STD-810D)濕熱試驗方法

GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件