當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 儀器專用配件>光譜配件>氙燈> 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱
返回產(chǎn)品中心>氙燈耐氣候試驗(yàn)箱
參考價(jià) | 面議 |
- 公司名稱 蘇瑞電子設(shè)備(北京)有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/10/23 19:39:22
- 訪問次數(shù) 28
當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 儀器專用配件>光譜配件>氙燈> 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱
返回產(chǎn)品中心>參考價(jià) | 面議 |
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱的使用氙燈耐氣候試驗(yàn)箱,能再現(xiàn)不同環(huán)境下產(chǎn)生的破壞性光波,為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱的使用
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱,能再現(xiàn)不同環(huán)境下產(chǎn)生的破壞性光波,為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)。可用于選擇新材料、改進(jìn)現(xiàn)有材料,在材料成分改變之后進(jìn)行的耐久性改變?cè)囼?yàn),這些試驗(yàn)?zāi)茌^好地模擬不同環(huán)境條件下陽(yáng)光對(duì)材料的影響。適用于各種產(chǎn)品的零部件和材料的檢驗(yàn),也適用于家用電器、零件、電子設(shè)備以及汽車、航空、移動(dòng)通訊、摩托車、塑料制品、機(jī)械、等行業(yè)對(duì)日光和人工光源老化的適應(yīng)性試驗(yàn),可靠性和耐久性試驗(yàn)適用于各研究所和企事業(yè)單位試驗(yàn)室。
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)特征
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱采用數(shù)控機(jī)床加工成型,外形美觀,無反作用柄,操作簡(jiǎn)便。
內(nèi)膽采用SUS304不銹鋼拉絲面板,表面光潔,紋理清晰。
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱附燈觀察箱保持明亮,并利用加熱體嵌入鋼化玻璃,隨時(shí)觀察箱內(nèi)清晰可辨。
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱的箱體左側(cè)有直徑為50mm或100mm的檢測(cè)孔,可以用來檢測(cè)電源或信號(hào)線外接。
控制器
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱控制采用全進(jìn)口觸摸屏儀表,操作設(shè)定簡(jiǎn)單。
資料及試驗(yàn)條件輸入后,控制器具有鎖定功能,避免人為觸摸而改變溫度值。
具有P.I.D自動(dòng)演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為精確穩(wěn)定。
冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)
工作尺寸及型號(hào)
經(jīng)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心檢測(cè),符合“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件”系列標(biāo)準(zhǔn)中的:
GB9344-88《塑料氙燈光源暴露試驗(yàn)方法》
GB5137.3《玻璃氙燈光源暴露試驗(yàn)方法》
GB/T16422.2-99(2007)的技術(shù)參數(shù)設(shè)計(jì)制造
符合(GB/T1865-97(2007)、GB/T9344-88、GB/T16422.2-99、GB/T2423.24-1995、ASTMG155、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412)等標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.3—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.4—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
GJB150.9 (MIL-STD-810D)濕熱試驗(yàn)方法
GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個(gè)人信息: