適用范圍：
? 大規(guī)模數(shù)字集成電路：MCU、DSP、FPGA、CPU、邏輯器件、接口器件和驅(qū)動(dòng)器件等
? 存儲器集成電路：SRAM、DRAM、SDRAM、DDR2、EEPROM，Nａnd Flash（PARALLEL, SERIAL），Nor Flash （PARALLEL SERIAL）等
? 特殊器件：ASIC、SOC、Medical、Sensor和客戶定制等器件。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
? 一個(gè)老化板的插槽能力；
? 手動(dòng)老化板拔插結(jié)構(gòu)（可選擇自動(dòng)老化板拔插機(jī)構(gòu)）；
? 基于一個(gè)PTDM模塊，具備矢量圖形和算法圖形產(chǎn)生和測試驅(qū)動(dòng)能力；
? 50MHz的系統(tǒng)主時(shí)鐘，可以實(shí)現(xiàn)高頻率的功能測試；最小可編程脈沖寬度10ns；
? 可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字集成電路、存儲器電路和混合集成電路的功能測試能力；
? 最多可以配置多達(dá)6個(gè)程控電源（選件）；可以提供高達(dá)104A的電流，老化電源可以并聯(lián)使用；
? 還配置了4路可編程參考電源（Vref）；
? 1G超大矢量存儲器；
? PTDM模塊均有時(shí)鐘發(fā)生器、地址發(fā)生器（包括1個(gè)16位加減Refresh地址計(jì)數(shù)器）、數(shù)據(jù)發(fā)生器、掃描發(fā)生器、圖形發(fā)生器和信號格式化器等信號發(fā)生能力，滿足各種器件的功能測試要求；
? 算法圖形發(fā)生器實(shí)現(xiàn)存儲器激勵(lì)信號的產(chǎn)生和輸出信號監(jiān)測
? I/O通道均具備三態(tài)編程控制及信號格式化（NRZ, DNRZ, RTZ, RTO, SBC,FORCE）能力，最多可以多達(dá)16組；
? 具備拓?fù)浼岸嗦忿D(zhuǎn)換功能；
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格或主要參數(shù)：
? 適合于EDA的HD型和HD/H型老化板；
? PTDM模塊的主要參數(shù)：
? 1G矢量存儲器和失效存儲器；
? 主時(shí)鐘：50MHz，定時(shí)分辨率：10ns；
? 最多可提供256 I/O通道，48個(gè)激勵(lì)信號通道和32個(gè)特殊監(jiān)測通道；
? 多達(dá)4組不同的Vih和Vil數(shù)字信號電平編程設(shè)置能力，保證混合工藝器件的功能測試能力；
? Vih編程范圍：0-8V、Vil編程范圍（）：0V～2V；測試閾值電平Vth編程范圍：0V～8V；
? 48路激勵(lì)通道具備超高信號高電平Vihh的編程能力，編程范圍：0V～15V；
? On-the -fly時(shí)鐘邊沿設(shè)置數(shù)量：32個(gè)；
? I/O通道具備NRZ, DNRZ, RTZ, RTO等格式化編程能力；
? 通道矢量深度：32M
? 每個(gè)信號通道的連續(xù)驅(qū)動(dòng)電流能力：200mA，峰值驅(qū)動(dòng)電流：3A；
? 4路可編程參考電壓，另外最多可選配6組程控老化電源，可提供108A老化電流；
? 可選配模擬模塊，每個(gè)模塊的模擬通道：4路，具備各種標(biāo)準(zhǔn)模擬信號的產(chǎn)生能力；
