| 參考價 | 面議 |
產(chǎn)品介紹： HAST Chamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗箱，用于車規(guī)級芯片，IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測試其制品的密封性和老化性能。產(chǎn)品別名： UHAST, 高加速穩(wěn)態(tài)濕熱應力試驗箱, 高壓蒸汽試驗箱, 不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱箱,BHAST
一，滿足試驗標準：
AEC Q101（車規(guī)級芯片）
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
二，應用領域：
PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片……
威旭儀器-HAST高壓加速壽命老化箱：
1.內(nèi)膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。
2.產(chǎn)品滿足JESD22-A100至A118偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗?jié)裥栽囼炓约帮柡透邏赫羝ㄕ糁螅┰囼灐?/p>
3.產(chǎn)品兼容高加速溫濕度應力HAST老化試驗和高壓蒸煮PCT抗?jié)裥栽囼灐?/p>
| HAST高壓加速壽命老化箱 | ||||
| 型號 | WBE-HAST-35 | WBE-HAST-40 | WBE-HAST-55 | |
| 容積（L） | 35 L | 40 L | 55 L | |
| 內(nèi)箱尺寸 （mm） | 直徑φ | 350 | 400 | 550 |
| 深D | 450 | 550 | 650 | |
| 外箱尺寸 （mm） | 寬W | 700 | 700 | 850 |
| 深D | 1000 | 1000 | 1150 | |
| 高H | 1710 | 1710 | 1760 | |
| 性能指標 | 溫度范圍 | +100~+156℃ | ||
| 濕度范圍 | 65%~99%RH | |||
| 壓力范圍 | 0.2~3kg/cm² (0.05~0.294Mpa) | |||
| 溫度均勻度 | ≤±2℃ | |||
| 溫度波動度 | ≤±0.5℃ | |||
| 濕度波動度 | ≤±2 % R.H | |||
| 濕度偏差 | ≤±3 % R.H | |||
| 溫度偏差 | ≤±2℃ | |||
| 壓力偏差 | ≤±2Kpa | |||
| 升溫時間 | 常溫～+ 155℃ 約45 min | |||
| 升壓時間 | 常壓～3㎏/㎝² 約35 min，外部氣源加壓：約5 min | |||
| 功率 | 2.8KW | 3.2KW | 4KW | |
| 箱體材質(zhì) | 內(nèi)箱 | SUS #316不銹鋼 | ||
| 外箱 | 冷軋鋼板+雙面靜電噴塑工藝處理 | |||
| 保溫 | 超細玻璃棉 | |||
| 噪音 | ≤60（dB） | |||
| 控制器 | 7寸彩色觸摸屏控制器（帶壓力溫濕度，帶RS-485或RS-232通訊，USB烤數(shù)據(jù)） | |||
| 分辨率 | 溫度：0.01℃；濕度：0.1%RH；壓力：0.1 kg/cm²； | |||
| 加壓方式 | 1.鍋爐蒸汽加壓；2.外部氣體加壓 | |||
| BIAS偏壓端子 | 含偏壓端子（選配訂購時需注明） | |||
| 使用條件 | 環(huán)境溫度：+5℃~+35℃;環(huán)境濕度：≤85%RH；環(huán)境大氣壓要求：86KPa～106KPa | |||
| 電源 | AC220V 50/60Hz | |||
| 重量 | 252KG | 285KG | 358KG | |
| 型號說明 |
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