高性能的s-SNOM和AFM成像

布魯克公司是從宏觀、亞微米到納米尺度紅外光譜（nanoIR）領域的世界。在納米尺度下的物理和化學性質等測量方面，我們致力于為聚合物、二維材料、材料科學、生命科學和微電子工業(yè)等多個領域提供創(chuàng)新的產(chǎn)品和解決方案。
Anasys 納米紅外光譜儀（nanoIR) 已被多所大學、國家實驗室和的化學/材料公司所采用。憑借高影響力和不斷增長的研究成果，通過廣大客戶的實際應用，納米紅外光譜儀表現(xiàn)出了良好的易用性和高效性。

性能的散射式 -SNOM 和 AFM 成像系統(tǒng)

nanoIR3-s系統(tǒng)將散射式近場光學顯微鏡（s-SNOM）和納米紅外光譜儀（AFM-IR）集成于一臺原子力顯微鏡（AFM）中，所有功能可在一個測量平臺上實現(xiàn)。nanoIR3-s系統(tǒng)建立在Anasys的既有技術之上，并在基于AFM的納米光學表征領域中具有地位，它提供了納米級的紅外光譜分析，化學成像和具有10 nm空間分辨率的光學特性成像功能。該系統(tǒng)還支持納米級分辨率的AFM形貌成像和材料物理性質成像功能，使其成為用于材料科學應用領域相關研究的理想選擇。

nanoIR3-s系統(tǒng)的主要特點:

•  飛秒級寬波帶nano-FTIR光譜
• 互補的s-SNOM和AFM-IR技術
• 具有電學、力學和熱學測試模塊的全功能高分辨的AFM平臺

納米尺度下互補的成像技術

1）散射式近場光學顯微鏡（s-SNOM）

s-SNOM 應用技術進行近場振幅和相位測量，測量過程中可以將探針定位在樣品上的固定位置，并改變光源的波長以提供近場光譜。s-SNOM 的點光譜成像是一項技術，由連續(xù)QCL激光器提供近場光譜、近場振幅和相位成像。

2）輕敲模式 AFM-IR

輕敲模式 AFM-IR 利用輕敲模式 AFM 作為傳感機構，測量樣品表面的光熱膨脹分布。具體來說，輕敲模式AFM-IR 可以利用輕敲模式下探針懸臂不同的諧振模式來測量光熱膨脹。輕敲模式AFM-IR可以在樣品上施加較低的 AFM 作用力，以實現(xiàn)更高的化學成像空間分辨率，對于不同種類的樣品，其分辨率可達10nm或更低。

3）共振增強型 AFM-IR

共振增強型 AFM-IR 技術是利用寬帶、脈沖、可調諧的中紅外激光器自上而下照射樣品實現(xiàn)的，脈沖激光被樣品選擇性地吸收，引起快速和瞬時的局部膨脹，并通過AFM 探針的機械偏轉來檢測，得到的紅外吸收光譜可與傅里葉紅外光譜（FTIR）直接對應解讀，并可根據(jù)現(xiàn)有的紅外光譜數(shù)據(jù)庫進行檢索。

4）力學性質成像，納米熱學分析和電學AFM模式

nanoIR3-s還可以提供以洛倫茲接觸共振技術（LCR）測量AFM懸臂梁的接觸共振頻率，從而繪制樣品的力學性質分布圖。nanoIR3-s 還可以通過納米熱學分析技術（nanoTA）在納米空間分辨率下定量測量樣品的熱熔點，同時對樣品微區(qū)進行熱性質成像（SThM）。此外，nanoIR3-s 還提供了表面電勢測量模塊（KPFM）和導電原子力測量模塊（CAFM）。