鐵電性能綜合測(cè)試儀內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或較高)、RAM(8G 或較大)、固態(tài)硬盤(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。

鐵電性能綜合測(cè)試儀

鐵電性能綜合測(cè)試儀產(chǎn)品介紹：

     華測(cè)儀器 鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV、10kV、20kV， Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、 脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或較高)、RAM (8G 或較大)、固態(tài)硬盤(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD  光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。

可擴(kuò)展部件：

  可與高低溫冷熱臺(tái)、高溫測(cè)試裝置、探針臺(tái)、高壓放大器、高阻計(jì)、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴(kuò)展。

  塊體測(cè)試夾具： 用于厚膜、塊體鐵電、 擊穿測(cè)試可擴(kuò)展變溫功能。

  薄膜四探針探針臺(tái)：室溫到 250℃ 可用于厚膜鐵電、壓電 （e31）、熱釋電測(cè)試。

  薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)： -196℃到+600℃ 可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試。

  薄膜探針臺(tái)（國(guó)產(chǎn)）： 室溫鐵電測(cè)試 可用于薄膜和厚膜室 溫鐵電性能測(cè)試