微焦斑XRF光譜儀(膜厚儀)
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- 公司名稱 東莞市元特儀器設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 東莞市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/8/22 14:50:03
- 訪問次數(shù) 114
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微焦斑XRF光譜儀(膜厚儀) 微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準確的數(shù)據(jù)。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣
微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
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