X射線衍射儀Ultima IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它采用了理學的CBO交叉光學系統(tǒng)，可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內的薄膜樣品測試。不需要重新設置,適合多種樣品的各種測試。

日本理學 UltimaIV

X射線衍射儀是適合測試粉末樣品、塊狀固體等，主要應用于混合物相的定性分析；樣品的對照分析；晶體物相的半定量分析；材料晶體結構的表征分析；結晶度分析等，面向化學、藥物、材料、農林、化工、環(huán)境、生化、礦物、地質、冶金、半導體等領域。