1、簡(jiǎn)介
微機(jī)控制電子試驗(yàn)機(jī)測(cè)控系統(tǒng)由我公司自主研發(fā)的SED控制器、FastTest測(cè)控軟件組成。測(cè)量單元采用高精度的負(fù)荷傳感器、旋轉(zhuǎn)式光電編碼器(或交流伺服電機(jī)編碼器)以及電子引伸計(jì),能實(shí)現(xiàn)對(duì)電子試驗(yàn)機(jī)的載荷、位移、變形三閉環(huán)控制,并且可以實(shí)現(xiàn)三種控制方式之間平滑切換,具有控制精度高、可靠、穩(wěn)定等特點(diǎn)。該系統(tǒng)可供各試驗(yàn)機(jī)廠家的電子試驗(yàn)機(jī)配套使用,組成微機(jī)控制電子試驗(yàn)機(jī),同時(shí)也適合對(duì)各檢測(cè)單位的老式電子試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行自動(dòng)化升級(jí)改造,升級(jí)成微機(jī)控制電子試驗(yàn)機(jī)。
2、技術(shù)參數(shù)
設(shè)備用途:該機(jī)主要用于管材料的環(huán)剛度、環(huán)柔性等力學(xué)性能測(cè)試和分析研究??筛鶕?jù)GB、ISO、DIN、ASTM、JIS等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供數(shù)據(jù)。 性能特點(diǎn):采用伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng),電機(jī)通過(guò)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)懸臂上下移動(dòng),實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)加載過(guò)程。本機(jī)采用的全數(shù)字閉 環(huán)控制系統(tǒng)進(jìn)行控制及測(cè)量,采用液晶/計(jì)算機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)過(guò)程及試驗(yàn)曲線的動(dòng)態(tài)顯示,并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,試驗(yàn)結(jié)束后可進(jìn)行數(shù)據(jù)再分析編輯,產(chǎn)品性能達(dá)到水平。 |
技術(shù)參數(shù)名稱 | 技術(shù)參數(shù)值 |
系列 | WDW |
型號(hào) | WDW-100 |
負(fù)荷 | 100KN |
試驗(yàn)機(jī)精度 | 1% |
試驗(yàn)機(jī)等級(jí) | 1級(jí) |
有效測(cè)力范圍 | 0.4%~100%FS |
測(cè)力精度 | 示值的±0.5%以內(nèi) |
試驗(yàn)機(jī)分辨率 | 負(fù)荷1/±500000碼,全程不分檔,且全程分辨率不變 |
負(fù)荷傳感器 | 基本配置:主負(fù)荷傳感器1支(擴(kuò)展配置:無(wú)) |
有效試驗(yàn)空間 | 0-1500mm |
有效試驗(yàn)寬度 | 1100mm. |
試驗(yàn)速度范圍 | 0~500mm/min |
位移測(cè)量精度 | 示值的±0.5%以內(nèi) |
變形測(cè)量系統(tǒng) | 擴(kuò)展配置:內(nèi)變形測(cè)量裝置:最小標(biāo)距200mm、變形范圍:3000mm |
變形測(cè)量精度 | 示值的±0.5%以內(nèi) |
試臺(tái)升降裝置 | 快/慢速度自動(dòng)控制、可點(diǎn)動(dòng)、可設(shè)置 |
懸臂返車(chē)功能 | 手動(dòng)或自動(dòng)兩種選擇、試驗(yàn)結(jié)束后自動(dòng)或手動(dòng)以設(shè)定速度返回試驗(yàn)初始位置 |
超載保護(hù) | 超過(guò)負(fù)荷10%,機(jī)器自動(dòng)保護(hù) |
夾具配置 | 可根據(jù)用戶要求定制 |
主機(jī)尺寸 | 1400*600*4000 mm |
電機(jī) | 220V±10% |
主機(jī)重量 | 1200KG |
3、SED控制器系統(tǒng)介紹
主要性能特點(diǎn):
1、具有三路模擬輸入通道:1路載荷、1路電子引伸計(jì)、1路擴(kuò)展通道,三個(gè)通道全部采用獨(dú)立的24位A/D轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行高精度數(shù)據(jù)采樣,分辨率可達(dá)±1/500000,全程分辨率不變。有多達(dá)15段的線性補(bǔ)償和修正功能,大大提高了傳感器的測(cè)量范圍和測(cè)量精度;
2、具有三路光電編碼器4倍頻計(jì)數(shù)輸入通道:1路拉線式位移傳感器通道、2路大變形引伸計(jì)通道;
3、具有8個(gè)開(kāi)關(guān)量輸入接口:可外接8路開(kāi)關(guān)輸入信號(hào);
4、SED控制器采用1路USB即插即用(免驅(qū)動(dòng))的通訊接口(STC測(cè)控卡采集PCIE接口),與PC機(jī)實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)通訊,實(shí)現(xiàn)采集數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)上傳和控制指令實(shí)時(shí)下發(fā)的功能,從而達(dá)到PC機(jī)實(shí)時(shí)控制試驗(yàn)機(jī)的目的;
5、可配置多個(gè)力傳感器和多個(gè)變形傳感器,用戶可以根據(jù)需要切換使用;
6、采用三級(jí)管理權(quán)限,分為調(diào)試員、管理員、試驗(yàn)員;
7、采用開(kāi)放式的試驗(yàn)方案配置模式,標(biāo)配的軟件內(nèi)置有GB/T228.1-2010、GB/T5224-2003、JGJ107-2010等幾十個(gè)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),用戶也可以方便地增加、刪除或修改一個(gè)試驗(yàn)方案,控制步驟可根據(jù)試驗(yàn)要求自由編輯;
8、試驗(yàn)結(jié)束時(shí)能自動(dòng)計(jì)算并保存試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù),如力、抗拉強(qiáng)度、屈服強(qiáng)度、規(guī)定非比例延伸強(qiáng)度等,并能在試驗(yàn)曲線上進(jìn)行特征點(diǎn)的顯示;
9、軟件具有強(qiáng)大的試驗(yàn)分析功能,可以對(duì)已經(jīng)完成的試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,并可將一組內(nèi)的多個(gè)試驗(yàn)曲線進(jìn)行疊加對(duì)比;
10、提供多種報(bào)表打印接口,用戶可根據(jù)需要編輯任何格式的報(bào)表;
11、采用標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)管理試驗(yàn)數(shù)據(jù),并可提供聯(lián)網(wǎng)數(shù)據(jù)接口,已與國(guó)內(nèi)絕大多數(shù)的聯(lián)網(wǎng)公司進(jìn)行數(shù)據(jù)上傳。
4、試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)主界面
裝 箱 單
序號(hào) | 名稱 | 數(shù)量 | 備注 |
1 | 主機(jī) | 1臺(tái) | |
2 | 試驗(yàn)機(jī)控制系統(tǒng) | 1套 | |
3 | 環(huán)剛度壓板 | 1套 | |
4 | 內(nèi)變形裝置 | 1套 | |
5 | 說(shuō)明書(shū) | 1份 | |
6 | 合格證 | 1張 | |