InSEMHT（高溫）通過在真空環(huán)境中分別獨(dú)立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度

InSEM^®HT（高溫）通過在真空環(huán)境中分別獨(dú)立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡

（SEM）和聚焦離子束（FIB）工作室，或獨(dú)立的真空工作室兼容。 配有的InView軟件可幫助高級研究人員開發(fā)新的實(shí)驗(yàn)?？茖W(xué)出

版文獻(xiàn)表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)的大規(guī)模高溫測試數(shù)據(jù)匹配良好。測試溫度范圍寬以及擁有成本低的特點(diǎn)使InSEM HT成為材料

開發(fā)研究計(jì)劃中很有價(jià)值的設(shè)備。

產(chǎn)品描述

InSEM HT高溫測試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對壓頭和樣品分別獨(dú)立進(jìn)行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨(dú)立真空工作室兼容。 系統(tǒng)

溫度可高達(dá)800°C，因而可以模擬現(xiàn)場溫度條件，以獲得可靠一致的測試數(shù)據(jù)。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經(jīng)過優(yōu)化，可用于

高溫測試應(yīng)用，并可提供多種幾何形狀。