qp-fast

10

統(tǒng)一質(zhì)量SPM探針,三個(gè)矩形懸臂,軟/標(biāo)準(zhǔn)/快速/動(dòng)態(tài)AFM分別成像,
檢測(cè)面鍍金

20

50

qp-HBC

10

鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 針尖形狀: 角錐形; 懸臂梁: 頻率 60 kHz 力常數(shù) 0.5 N/m 長(zhǎng)度 115 μm; 應(yīng)用范圍：智能探針

20

50

qp-BioT

10

qp-BioT探針有兩個(gè)三角懸臂梁，懸臂梁: 力常數(shù) 0.08 N/m 0.3 N/m; 應(yīng)用范圍：生物探針、液體探針；優(yōu)勢(shì)：力常數(shù)和共振頻率波動(dòng)范圍小，特別適用于的定量納米力學(xué)研究和生物測(cè)試

20

50

qp-BioAC

10

qp-BioAC探針三個(gè)懸臂梁，懸臂梁: 力常數(shù) 0.06 N/m 0.1 N/m 0.3 N/m; 應(yīng)用范圍：生物探針、液體探針；優(yōu)勢(shì)：力常數(shù)和共振頻率波動(dòng)范圍小，特別適用于的定量納米力學(xué)研究和生物測(cè)試

20

50

qp-BioAC-CI

10

qp-BioAC-CI探針三個(gè)懸臂梁，懸臂梁: 力常數(shù) 0.06 N/m 0.1 N/m 0.3 N/m; 應(yīng)用范圍：生物探針,細(xì)胞探針；優(yōu)勢(shì)：力常數(shù)和共振頻率波動(dòng)范圍小，特別適用于的定量納米力學(xué)研究和細(xì)胞測(cè)試

20

50

PtSi-NCH

10

新導(dǎo)電探針，鍍層: 鉑硅； 比常規(guī)導(dǎo)電探針更耐磨，電學(xué)信號(hào)更長(zhǎng)久，重復(fù)性好、分辨率高。應(yīng)用范圍：導(dǎo)電探針

20

50

ATEC-NC

10

輕敲探針，鍍層: 無(wú)； 針尖可視的探針，可應(yīng)用到對(duì)于那些針尖需要被精確定位或必須針尖可見(jiàn)的應(yīng)用（例如，用于納米操作）來(lái)說(shuō)，ATEC是必然的。由于其很小的半錐角，ATEC系列產(chǎn)品在陡峭的小尺寸圖案樣品測(cè)量中表現(xiàn)出很好的性能。

20

50

ATEC-NCPt

10

導(dǎo)電探針，鍍層: 鉑銥； 針尖可視的探針，可應(yīng)用到對(duì)于那些針尖需要被精確定位或必須針尖可見(jiàn)的應(yīng)用（例如，用于納米操作）來(lái)說(shuō)，ATEC是必然的。由于其很小的半錐角，ATEC系列產(chǎn)品在陡峭的小尺寸圖案樣品測(cè)量中表現(xiàn)出很好的性能。

20

50

PPP-NCH

10

輕敲探針，鍍層: 無(wú)； 其小于7納米的典型半徑和很小的探針個(gè)體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性。

20

50

PPP-NCH-W

380

PPP-NCHR

15

輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 其小于7納米的典型半徑和很小的探針個(gè)體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性。

20

50

PPP-NCHR-W

380

PPP-NCHPt

10

導(dǎo)電探針，鍍層: 鉑銥； 其小于25納米的典型半徑和很小的探針個(gè)體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性。

20

50

PPP-NCHPt-W

380

ATEC-NCAu

10

導(dǎo)電探針，鍍層: 金； 針尖可視的探針，可應(yīng)用到對(duì)于那些針尖需要被精確定位或必須針尖可見(jiàn)的應(yīng)用（例如，用于納米操作）來(lái)說(shuō)，ATEC是必然的。由于其很小的半錐角，ATEC系列產(chǎn)品在陡峭的小尺寸圖案樣品測(cè)量中表現(xiàn)出很好的性能。

PPP-NCHAu

10

導(dǎo)電探針，鍍層: 金； 其小于25納米的典型半徑和很小的探針個(gè)體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性。

PPP-NCHAuD

10

導(dǎo)電探針，鍍層: 金； 其小于25納米的典型半徑和很小的探針個(gè)體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性。

PPP-XYNCHR

10

輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍金； 此探針具有杰出的運(yùn)行穩(wěn)定性，優(yōu)異的靈敏度以及快速掃描能力。

20

50

PPP-QNCHR

10

輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 其小于7納米的典型半徑和很小的探針個(gè)體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性。

PPP-RT-NCHR

10

輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 其小于7納米的典型半徑和很小的探針個(gè)體差異提高了圖像的分辨率并保證了圖像的可重復(fù)性。

20

50

PL2-NCH-10

10

輕敲探針，鍍層: 無(wú)；應(yīng)用:Plateau AFM Tips

PL2-NCHR-10

10

輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁；應(yīng)用:Plateau AFM Tips

TL-NCH

10

tipless探針，鍍層: 無(wú)；

20

50

SSS-NCH

10

尖探針，鍍層: 無(wú)； 針尖形狀:  懸臂梁: 頻率 330 kHz 力常數(shù) 42 N/m 長(zhǎng)度 125 μm; 應(yīng)用范圍：輕敲探針

20

50

SSS-NCHR

10

尖探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 針尖形狀:  懸臂梁: 頻率 330 kHz 力常數(shù) 42 N/m 長(zhǎng)度 125 μm; 應(yīng)用范圍：輕敲探針

20

50

AR5-NCH

10

HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1

20

50

AR5-NCH-W

370

AR5T-NCH

10

TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1,tilt compensation 13°

20

50

AR5T-NCH-W

365

AR10-NCH

10

HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1

20

50

AR10-NCH-W

370

AR10T-NCH

10

TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1, tilt compensation 13°

20

50

AR10T-NCH-W

365

AR5-NCHR

10

HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1, detector side :Al-coating

20

50

AR5-NCHR-W

370

AR5T-NCHR

10

TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥5:1,tilt compensation 13°detector side: Al-coating

20

50

AR5T-NCHR-W

365

AR10-NCHR

10

HIGH ASPECT RATIO Probe,silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1 detector side :Al-coating

20

50

AR10-NCHR-W

370

AR10T-NCHR

10

TILT COMPENSATED HIGH ASPECT RATIO Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, HIGH ASPECT RATIO tip,aspect ratio ≥10:1, tilt compensation 13°detector side: Al-coating

20

50

AR10T-NCHR-W

365

DT-NCHR

10

DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating

20

50

CDT-NCHR

10

CONDUCTIVE DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating

20

50

PPP-NCST

10

輕敲探針，鍍層: 無(wú)，針尖形狀: 錐形; 懸臂梁: 頻率 160 kHz 力常數(shù) 7.4 N/m 長(zhǎng)度 150 μm; 應(yīng)用范圍：軟輕敲探針

20

50

PPP-NCST-W

380

PPP-NCSTR

10

輕敲探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 針尖形狀: 錐形; 懸臂梁: 頻率 160 kHz 力常數(shù) 7.4 N/m 長(zhǎng)度 150 μm; 應(yīng)用范圍：軟輕敲探針

20

50

PPP-NCSTR-W

380

PPP-NCSTPt

10

導(dǎo)電探針，鍍層: 鉑銥；

20

50

PPP-NCSTPt-w

380

PPP-NCSTAu

10

Silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,soft tapping, detector and tip side : Au-coating

PPP-NCSTAuD

10

Silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,soft tapping, detector and tip side : Au-coating

PPP-XYNCSTR

10

Silicon cantilever for non-contact-/tapping -mode,soft tapping, detector and tip side : Al-coating,XY-auto aligment

20

50

PPP-NCL

10

Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever

20

50

PPP-NCL-W

380

PPP-NCLR

10

Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector side : Al-coating

20

50

PPP-NCLR-W

380

PPP-NCLPt

10

Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector side :

Pt/Ir-coating, tip side : Pt/Ir-coating

20

50

PPP-NCLPt-W

380

PPP-NCLAu

10

Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector and tip side : Au-coating

PPP-NCLAuD

10

Silicon cantilever for non-contact -/tapping -mode, long cantilever, detector side : Au-coating

PL2-NCL

10

Silicon-SPM-Probe with plateau tip, silicon cantilever for non-contact-/tapping

-mode,long cantilever

PL2-NCLR

10

Silicon-SPM-Probe with plateau tip, silicon cantilever for non-contact-/tapping

-mode,long cantilever, detector side: Al-coating

TL-NCL

10

Tipless silicon cantilever based on POINTPROBE technology

20

50

SSS-NCL

10

尖探針，鍍層: 無(wú)； 針尖形狀: 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長(zhǎng)度 225 μm; 應(yīng)用范圍：輕敲探針

20

50

SSS-NCLR

10

尖探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 針尖形狀: 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長(zhǎng)度 225 μm; 應(yīng)用范圍：輕敲探針

20

50

AR5-NCL

10

高長(zhǎng)徑比探針，鍍層: 無(wú)； 針尖形狀: 高長(zhǎng)徑比; 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長(zhǎng)度 225 μm; 應(yīng)用范圍：高長(zhǎng)徑比探針

20

50

AR5-NCL-W

370

AR5-NCLR

10

高長(zhǎng)徑比探針，鍍層: 懸臂背面鍍鋁； 針尖形狀: 高長(zhǎng)徑比; 懸臂梁: 頻率 190 kHz 力常數(shù) 48 N/m 長(zhǎng)度 225 μm; 應(yīng)用范圍：高長(zhǎng)徑比探針

20

50

AR5-NCLR-W

370

DT-NCLR

10

金剛石探針，高長(zhǎng)徑比探針，硅懸臂非接觸式- /敲擊模式，鍍層: 懸臂背面鍍鋁

20

50

CDT-NCLR

10

導(dǎo)電金剛石探針，高長(zhǎng)徑比探針，硅懸臂非接觸式- /敲擊模式，鍍層: 懸臂背面鍍鋁

20

50

A-Probe

10

AKiyama-Probe, self-sensing and self-actuating(-exciting) probe for dynamic mode AFM

PPP-SEIH

10

Silicon cantilever for non-contact/tapping

-mode,special type A.

20

50

PPP-SEIH-W

380

PPP-SEIHR

10

Silicon cantilever for non-contact/tapping

-mode,special type A, detector side : Al-coating

20

50

PPP-SEIHR-W

380