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- 公司名稱 北京量拓科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/6/20 15:27:33
- 訪問(wèn)次數(shù) 100
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ESNano光譜橢偏儀是應(yīng)用于工業(yè)或科研領(lǐng)域中納米薄膜厚度和折射率常規(guī)測(cè)量的臺(tái)式解決方案
ESNano光譜橢偏儀是應(yīng)用于工業(yè)或科研領(lǐng)域中納米薄膜厚度和折射率常規(guī)測(cè)量的臺(tái)式解決方案。 儀器操作及其簡(jiǎn)單,僅通過(guò)放置樣品、點(diǎn)擊一個(gè)按鈕,即可在數(shù)秒內(nèi)完成一次高精度測(cè)量。 ESNano光譜橢偏儀采用步進(jìn)補(bǔ)償器掃描測(cè)量模式,利用高靈敏度陣列探測(cè)單元和專(zhuān)用橢偏分析軟件,通過(guò)光波在樣品表面反射前后偏振態(tài)的變化得到樣品信息。儀器用于常規(guī)測(cè)量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)(如,厚度)和物理參數(shù)(如,折射率n、消光系數(shù)k,或介電函數(shù)ε1和ε2),也可用于測(cè)量塊狀材料的光學(xué)性質(zhì)。
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