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返回產品中心>多領域適用型高等級光譜儀、操作簡單、堅固耐用Neo系列光譜儀可為多種應用創(chuàng)建光譜測量解決方案
多領域適用型高等級光譜儀
、操作簡單、堅固耐用
Neo系列光譜儀可為多種應用創(chuàng)建光譜測量解決方案。光譜分析、透過率測試或吸光度測試，Neo都能幫您解決，同時它還適用于類似LED測試的固態(tài)照明（SSL）、薄膜涂層或其他要求苛刻的領域。
Neo是一款模塊化的光譜儀，功能非常強大和多樣化。Admesy可以為Neo配置多種光柵或狹縫。關于具體配置，請聯(lián)系我們。對于OEM客戶，Admesy還提供定制的電氣、機械和固件設計以及系統(tǒng)集成支持。
可選用的配件有余弦校正器、透鏡系統(tǒng)、積分球和比色皿支架、光源和中性密度濾光片輪等。
Neo系列特點：
性能好精度高：線性度、波長和暗電流校準
噪音和雜散光低
線性度好
易于使用
可通過Neo直接控制附件
校準管理
易于集成到系統(tǒng)中（SDK）
堅固的連接器，可選SMA、SMA槽口和FC/PC連接器
模塊化工作臺選項
非常具有吸引力的價格
校準維護成本低
準確、適用廣且堅固耐用的OEM解決方案
基本參數(shù)（鏡頭模式）
| 型號 | Neo 光譜 |
光譜范圍 | 200-1100nm |
非線性度 | <> |
數(shù)據(jù)輸出分辨率 | 可以通過軟件設置為幾乎任何分辨率 |
焦距 | 115 mm |
NA光學工作臺 | 0.10 |
光譜分辨率（FWHM） | 取決于具體配置，詳情參見規(guī)格書 |
Order sorting filter | 線性漸變?yōu)V光片 |
波長精度 | +/- 0.3nm |
雜散光 | ~0.05% （在 400nm 處采用 455nm 截止濾光片與寬帶光源進行測量) |
探測器 | 濱松冷卻探測器(S7031) |
暗噪聲(RMS) | ~ 3 到 5 count (16 bit ADC) |
S/N* | >1300:1 |
機械快門 | 快門壽命 > 1000000 次操作 |
積分時間 | 4.8毫秒 - 60分鐘 |
| 冷卻溫度 | -10℃ |
接口 | 高速USB、RS232、以太網、外部觸發(fā)接口 |
| 測量參數(shù) | 光譜輸出、輻射測量數(shù)據(jù)或顏色數(shù)據(jù)（Y亮度、xy色坐標、DWL、PWL、CRI、CCT等） |
| 數(shù)據(jù)處理時間 | 15ms |
尺寸（長、寬、高） | 詳細機械尺寸請參考產品規(guī)格書 |
重量 | 5.3kg |
工作溫度 | 10-35℃ |
| 功率輸入 | 常規(guī)15V DC （14.5-15.5V DC 范圍 |
| 功耗 | 常規(guī) 12W， 30W |
光纖連接 | 工業(yè)光纖連接器 |
注：*S/N是在100次光譜測量的峰值波長（幾乎飽和）下計算的。計算方法：平均值除以標準差。
注：光譜范圍取決于內部和（外部）具體的光學配置。配備余弦校正器的Neo光譜儀通常在250-1050nm光譜范圍內響應。
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