Alpha-Step D-300探針式輪廓儀/臺階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺階高度。 D-300型探針式輪廓儀/臺階儀還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測量。 D-300包括一個手動140毫米平臺和的光學(xué)系統(tǒng)以及加強(qiáng)視頻控制。

產(chǎn)品描述

Alpha-Step D-300探針式輪廓儀（臺階儀）支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測量。 創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行精確測量。

通過測量粗糙度和應(yīng)力，可以對工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

產(chǎn)品主要特點(diǎn)

臺階高度：幾納米至1000μm

低觸力：0.5至15mg

視頻：500萬像素高分辨率彩色攝像頭

梯形失真校正：消除側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)引起的失真

圓弧校正：消除由于探針的弧形運(yùn)動引起的誤差

緊湊尺寸：占地面積小

主要應(yīng)用

臺階高度：2D臺階高度

紋理：2D粗糙度和波紋度

形式：2D翹曲和形狀

應(yīng)力：2D薄膜應(yīng)力

工業(yè)應(yīng)用

大學(xué)，研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

半導(dǎo)體和復(fù)合半導(dǎo)體

LED：發(fā)光二極管

太陽能

MEMS：微電子機(jī)械系統(tǒng)

汽車

醫(yī)療設(shè)備

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