掃描電子顯微鏡為您*苛刻的樣品
有了EVO，你可以比以往任何時(shí)候都更好地捕捉和分析圖像。
使用*清探測(cè)器技術(shù)捕捉*對(duì)比度的表面細(xì)節(jié)的裂縫，復(fù)合材料，加工表面和顆粒。
通過(guò)EVO 25，您可以在其420毫米的大腔室中查看來(lái)自航空航天和汽車(chē)工業(yè)的大型樣品。
EVO可以提*您在質(zhì)量控制和失敗方面的生產(chǎn)力
分析。
將自動(dòng)智能成像用于您的任務(wù)，它將迅速提供可重復(fù)的結(jié)果。
更重要的是，SmartBrowse具有交互式圖像模板，允許您在上下文中顯示示例圖像，并*加快報(bào)告的創(chuàng)建。
根據(jù)您的需求配置
決議
1.9 nm, 2 nm, 3 nm at 30 kV SE with HD, LaB6, W 4.0 nm at 30 kV BSD (in VP mode)
5 nm, 10 nm, 3 nm在3 kV SE與HD, W
8 nm, 15 nm, 20 nm, 1kv SE與HD, LaB6, W
放大
< 7 - 1,000,000 × / < 5 - 1,000,000 ×
x射線參數(shù)
WD 8.5 mm / 35°TOA
壓力范圍
10 - 400 Pa

簡(jiǎn)單。更聰明。更多的集成。
?堅(jiān)固的支架和各種腔室尺寸允許您處理大型、重型或復(fù)雜的樣品。
?easyvp讓您無(wú)縫切換*真空和
變壓模式。
?用戶友好的圖像導(dǎo)航和樣本類(lèi)型的選擇，讓您快速捕捉圖像。
?*穩(wěn)定性和幾何形狀確保了在*真空和變壓力模式下的*元件分析。
?您的系統(tǒng)是面向未來(lái)的，可以在任何時(shí)候進(jìn)行擴(kuò)展。
只需配備新的探測(cè)器或擴(kuò)展壓力或濕模式，當(dāng)您的應(yīng)用需求如此需求。
為您的應(yīng)用程序創(chuàng)建
?分析汽車(chē)涂料的厚度、成分和結(jié)構(gòu)。
?確保生產(chǎn)過(guò)程的清潔。
對(duì)鋼中非金屬夾雜物的成分進(jìn)行分析。
?對(duì)彈殼上的槍擊殘留物和撞針凹痕進(jìn)行法醫(yī)調(diào)查。
進(jìn)行快速和可重復(fù)的顆粒分析。
?分析藥物制劑在片劑上的分布
部分。
?查看金屬和合金中由孔隙形成引起的滑移帶、空洞和裂縫。