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AFM-O光學(xué)原子力顯微鏡一體機(jī)產(chǎn)品特點(diǎn)

• 光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡一體式設(shè)計(jì)，光電控制一體化；
• 同時(shí)具備光學(xué)和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時(shí)掃描成像，互不影響；
• 同時(shí)具備光學(xué)二維測(cè)量和原子力顯微鏡三維測(cè)量功能；
• 采用了垂直光路設(shè)計(jì)，配合氣液兩用型探針架可同時(shí)在空氣或液體中使用；
• 利用了高倍光學(xué)定位系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位；
• 簡(jiǎn)易的激光光斑調(diào)節(jié)方式，可通過光學(xué)CCD窗口實(shí)時(shí)觀測(cè)及調(diào)節(jié)光斑；
• 單軸驅(qū)動(dòng)樣品自動(dòng)垂直接近探針，準(zhǔn)確定位掃描區(qū)域，使針尖垂直于樣品掃描；
• 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品；
• 配備氣動(dòng)式減震臺(tái)，抗干擾能力強(qiáng)，不影響儀器使用操作；
• 集成掃描器硬件非線性校正用戶編輯器，納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%。

應(yīng)用范圍