XT V 130和XT V 160X射線/CT檢測系統(tǒng)

尼康XT V系列包括用于電子元件（PCB、BGA、芯片設(shè)計等）無損檢測的X射線和CT檢測系統(tǒng)。

XT V 130和XT V 160

XT V系統(tǒng)范圍具有亞微米特征識別功能，可滿足當今對復(fù)雜電子元件進行高性能、無損檢測的需要。尼康Xi Nanotech X射線源與業(yè)平板探測器相配，可產(chǎn)高品質(zhì)的圖像質(zhì)量，并在2D和3D檢測之間實現(xiàn)無縫轉(zhuǎn)換。

X射線源

尼康的Xi Nanotech X射線源，具備整體式發(fā)生器設(shè)計和160kV與20W功率的特點。

強大的圖像增強功能

High.Contrast Filter 通過在單幅清晰圖像中同時保證高低對比度區(qū)域的出色圖像質(zhì)量，從而揭示射線圖像中的隱藏細節(jié)。操作員現(xiàn)在可以比以往更快地識別樣品的各個方面，從而優(yōu)化和提高效率

PCB分析套件

BGA、鍵合線、PTH和多層板上的PoP等復(fù)雜封裝的高級測量和分析功能，具有自動通過/失敗檢測和報告功能。

斜角同心成像

斜角視場高達90°，360°樣本旋轉(zhuǎn)，借助智能軟件和硬件保持感興趣區(qū)域。

規(guī)格比較