總體描述Sigma系列產品用于高品質成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的Gemini電子光學元件
將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
關鍵字：
蔡司掃描顯微鏡，蔡司Zeiss Sigma場發(fā)射電子顯微鏡、數碼顯微鏡、進口顯微鏡、科研級顯微鏡、光學顯微鏡、分析顯微鏡、相差顯微鏡、蔡司顯微鏡、蔡司生物顯微鏡
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