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奧林巴斯MX-IR/BX-IR透視近紅外顯微鏡

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具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 上海曼戈斐光學(xué)技術(shù)有限公司
品牌
型號
所在地 上海市
廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2024/5/24 15:29:49
訪問次數(shù) 58

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

MX-IR/BX-IR透視近紅外顯微鏡詳細介紹：非破壞觀察半導(dǎo)體器件內(nèi)部隨著不斷發(fā)展的電子設(shè)備小型化、超薄化的需求，半導(dǎo)體器件的封裝技術(shù)也高速進化

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MX-IR / BX-IR透視近紅外顯微鏡詳細介紹：

非破壞觀察半導(dǎo)體器件內(nèi)部
隨著不斷發(fā)展的電子設(shè)備小型化、超薄化的需求，半導(dǎo)體器件的封裝技術(shù)也高速進化。使用近紅外線顯微鏡，可以對SiP（System in Package）、三維組裝、CSP（Chip Size Package）等用可視觀察無法看到的領(lǐng)域進行無損檢查和分析。
倒裝芯片封裝的不良狀況無損分析
在倒裝芯片的焊接中，組裝后的焊接部分和模塊無法用可見光檢查。但是，如果使用近紅外線顯微鏡，則可以在不破壞封裝的前提下，透過硅觀察IC芯片內(nèi)部。只要置于顯微鏡下，就可以輕松進行不良狀況分析。對必需用FIB（Focused Ion Beam）處理位置的也有效。
晶圓級CSP開發(fā)的環(huán)境試驗導(dǎo)致芯片損壞
晶圓級CSP的高溫高濕試驗導(dǎo)致器件的變化，可以用非接觸方式檢查。此外，還能可靠的觀察銅引線部分的融解和腐蝕引起的漏電、樹脂部分的剝離等。

鋁引線部分（內(nèi)面觀察）

焊錫溢出性評價

電極部分（內(nèi)面觀察）

針對不同樣品的顯微鏡產(chǎn)品陣容
MX系列產(chǎn)品（半導(dǎo)體檢查型號）

可以用來觀察150～300 mm晶圓等的大型樣品。只對應(yīng)反射照明觀察。

半導(dǎo)體／FPD檢查顯微鏡 MX61

工業(yè)檢查顯微鏡 MX51

BX系列產(chǎn)品（標準型號）

研究級全電動系統(tǒng)
金相顯微鏡 BX61

對應(yīng)反射光觀察和透射光觀察。

BXFM（嵌入式設(shè)備型號）

小型系統(tǒng)顯微鏡 BXFM

技術(shù)規(guī)格：
將專用物鏡等近紅外線觀察裝置搭載于顯微鏡上，就可以組成紅外線觀察顯微鏡。
有關(guān)對應(yīng)的顯微鏡規(guī)格，請參閱各顯微鏡的具體規(guī)格說明。

LMPlan-IR紅外線觀察用
對應(yīng)顯微鏡一覽
紅外線反射觀察
> MX61A: 可以綜合控制外圍設(shè)備、對應(yīng)300 mm晶圓的電動型號
> MX61L/ MX61: 可以對應(yīng)300 mm/ 200 mm 晶圓的電動型號
> MX51: 可以對應(yīng)150 mm晶圓的手動型號
> BX51M: 從明視場到熒光，對應(yīng)大范圍觀察的通用型號
紅外線反射透射觀察
> BX61: 操作省力的電動控制型號
> BX51: 從明視場到熒光，對應(yīng)大范圍觀察的通用型號