安東帕 Anton Paar TTX-NHT3動(dòng)態(tài)顯微硬度計(jì)簡介：

瑞士CSM的動(dòng)態(tài)/超顯微硬度計(jì)廣泛用于表征各種涂鍍層、薄膜的機(jī)械性能、產(chǎn)品品質(zhì)，包括硬度、彈性模量和斷裂韌性等，表征的材料幾乎包括所有類型的材料：柔軟、硬質(zhì)、脆性或延展性材料。 

應(yīng)用領(lǐng)域：

1）半導(dǎo)體技術(shù)：保護(hù)層、金屬層等 
2）數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：磁盤保護(hù)涂層、圓盤基底上的磁性涂層、CD上的保護(hù)涂層等 
3）光學(xué)元件：隱形眼鏡、光學(xué)抗劃涂層、接觸棱鏡 
4）裝飾涂層：蒸發(fā)金屬涂層 
5）抗磨損涂層：TiN、TiC、DLC、刀具、模具、手機(jī)外殼等 
6）藥理學(xué)：藥片和藥丸、植入器官、生物組織 
7）汽車：油漆和聚合物、清漆和修飾、玻璃窗、剎車片 
8）一般工程技術(shù)應(yīng)用：抗耐性橡膠、觸摸屏、潤滑劑和潤滑油、滑動(dòng)軸承、自潤滑系統(tǒng) 
9）MEMS微電子領(lǐng)域等

瑞士CSM儀器公司三十年來致力于為材料、物理、機(jī)械工作者提供、精準(zhǔn)、全面的材料機(jī)械性質(zhì)測(cè)試儀器、分析咨詢以及測(cè)試服務(wù)。我們的主要產(chǎn)品包括： 
測(cè)量材料硬度和彈性模量的納米級(jí)、微米級(jí)儀器化壓入測(cè)試儀（納米壓痕儀, 顯微壓痕儀）； 
界定膜基結(jié)合強(qiáng)度、薄膜抗劃擦能力的納米級(jí)、微米級(jí)、大載荷劃痕測(cè)試儀 (Scratch tester) ； 
包括真空、高溫以及線性往復(fù)運(yùn)動(dòng)等選項(xiàng)的摩擦磨損測(cè)試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗(yàn)機(jī) ； 
易用的膜厚測(cè)試儀； 
用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope) 。

技術(shù)參數(shù)：

技術(shù)參數(shù)載荷范圍:0.1-500mN
(可選0.03-30N);
載荷分辨率:0.04µN;
深度分辨率:0.04nm;

主要特點(diǎn)：

*無需光學(xué)測(cè)量殘留壓痕對(duì)角線長度，全自動(dòng)獲得壓入硬度、維氏硬度、彈性模量等 
  同時(shí)獲得載荷和位移對(duì)應(yīng)的曲線
*最小載荷可至10mg力（0.1mN),最小壓入深度可至100nm，有效克服基底效應(yīng)，適合微米至納米級(jí)鍍層（涂層）或薄膜的機(jī)械   性能表征； 
*可同時(shí)獲得硬度和楊氏模量數(shù)據(jù); 
*符合ISO 14577標(biāo)準(zhǔn) 
*技術(shù)有效克服熱漂移對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響; 

*低價(jià)位、高性能；