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X熒光光譜測厚儀 XTU-A

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產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析儀產(chǎn)品名稱:鍍層測厚儀產(chǎn)品型號:XTU-A產(chǎn)品優(yōu)勢:XTU-A是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度的鍍層測厚儀,C型開槽設(shè)計(jì)樣品腔,讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測,同時(shí)還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量

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產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析儀

產(chǎn)品名稱:鍍層測厚儀

產(chǎn)品型號:XTU-A

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產(chǎn)品優(yōu)勢:

XTU-A是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度的鍍層測厚儀,C型開槽設(shè)計(jì)樣品腔,讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測,同時(shí)還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

 

1)搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),最小測量面積達(dá)0.03mm2

2)擁有無損變焦檢測技術(shù),手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm

3)核心EFP算法,可對多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準(zhǔn)檢測層Ni和第三層Ni的厚度)

4)配備高精密微型移動滑軌,可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位、多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測

5)裝配高效率正比接收器,即便測量0.03mm2以下的樣品,幾秒鐘也可達(dá)到穩(wěn)定性

6)可同時(shí)分析23個(gè)鍍層,24種元素,測量元素范圍:氯Cl(17)- 鈾U(92),涂鍍層分析范圍:氯Cl(17)/鋰Li(3)- 鈾U(92),涂鍍層檢出限:0.005μm

7)人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作

8)標(biāo)配為2個(gè)準(zhǔn)直器任意選擇一種,最小測量面積可達(dá)0.03mm2

9)配有微光聚集技術(shù),最近測距光斑擴(kuò)散度小于10%


儀器配置:

1. 微聚焦X射線管:高穩(wěn)定性X射線發(fā)生器

        —鈹窗口,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽

        —50kV,1mA,高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供更好的性能

        —符合DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568射線標(biāo)準(zhǔn),如有特殊要求,也可

協(xié)商定制

2. 接收器:高效率正比計(jì)數(shù)管

        —窗口面積≥150mm2

3. 光路轉(zhuǎn)換器

        —φ0.5mm,φ0.2mm,兩個(gè)準(zhǔn)直器任意選擇一種

4. 定制專享高敏感鏡頭

        —1/2.7”彩冊CCD高敏感可變焦鏡頭,全局快門,有效像素:1280*960,光學(xué)38-46X,數(shù)字放大40-200倍  

5. 恒壓恒流快門式光閘

    —擁有高壓電源緊急自鎖功能,帶給您更安全的防護(hù)

6. 移動平臺

        —無(可選配)

7. 全新一代高壓電源

—性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率

8. 對流通風(fēng)式過濾風(fēng)冷

—的散熱系統(tǒng)配備,儀器即便全天候開啟,都可保持恒溫恒效

9. 隨附標(biāo)準(zhǔn)片

        —免費(fèi)提供十二元素片、五選二標(biāo)準(zhǔn)片( Ni/Cu 2um、Ni/Fe 5um、Au/XX 0.05um、Ag/XX 0.5um、Cr/XX 0.15um)、其他規(guī)格(選配)

10. 其他配置

        —電腦一套、打印機(jī)、附件箱、電鍍液測量杯(選配)

 


技術(shù)參數(shù):

1. 元素分析范圍:氯(Cl)- 鈾(U)

2. 涂鍍層分析范圍:氯(Cl)/鋰(Li)- 鈾(U)

3. 厚度檢出限:0.005μm

4. 成分檢出限:1ppm

5. 最小測量直徑0.2mm(最小測量面積0.03mm2)

6. 對焦距離:0-30mm

7. 樣品腔尺寸:500mm*360mm*215mm

8. 儀器尺寸:550mm*480mm*470mm

9. 儀器重量:45KG

10. 多元迭代EFP核心算法(號:2017SR567637)

專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe,通過EFP算法,在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí),還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例。

重復(fù)鍍層應(yīng)用:不同層有相同元素,也可精準(zhǔn)測量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。


儀器參數(shù):

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