如何直接測量植物葉片的葉面積指數(shù)直接測量法是指收集植株葉片，直接測量其面積或測量葉片質(zhì)量、形狀、長寬等參數(shù)，再轉(zhuǎn)換為面積，或者是直接使用葉面積測量儀及西寧對植物也面積的快速測定分析。

葉面積測量儀與衛(wèi)星定位跟蹤法比較
如何直接測量植物葉片的葉面積指數(shù)直接測量法是指收集植株葉片，直接測量其面積或測量葉片質(zhì)量、形狀、長寬等參數(shù)，再轉(zhuǎn)換為面積，或者是直接使用及西寧對植物也面積的快速測定分析。這是經(jīng)典的、成熟的LAI測量方法，具有zui高的測量精度。其測量值通常被稱為真實葉面積指數(shù)，是間接測定的重要對比方法。該方法包括葉片采集和測量2個步驟。葉片采集方法有落葉箱法、代表植株法、區(qū)域采樣法等；測量方法有格點法、方格法、描形稱重法以及掃描和攝影等儀器測定法。
由于直接測量對植物本身具有一定的破壞性，且必須人工采集葉片樣品，費時耗力，采樣不一定具有代表性，一般只用作科研，故實際測量和研究中常采用間接測量法。間接測量法與直接測量法相比，間接測量法能夠更快、更大范圍地對LAI進(jìn)行測量，并且不對植物產(chǎn)生傷害，因此得到迅速發(fā)展和廣泛應(yīng)用，而的測定則是可以更加快速準(zhǔn)確的測定植物的葉面積變化。但是，采用這種方法得到的LAI往往偏低，不同類型的冠層低估范圍通常在25%～50%。雖然目前有許多方案能克服由于間接測量帶來的偏差，但并沒有根本地解決此類問題的產(chǎn)生。該方法主要分為空間測量法和地面測量法兩類?？臻g測量法?？臻g測量法也稱遙感測量法，通過衛(wèi)星對植被和覆蓋物之間的反射光譜信息采集完成測量，為大范圍研究森林和陸地植被LAI提供有效的途徑。空間測量法分為統(tǒng)計模型法、物理模型法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型法3種。
葉面積測量儀：