• JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
• 掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所的工具，
• 對于需要品控的制造工廠也是的。 在這些場景中，
• 用戶需要重復執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。
• JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復操作交給它”，
• 從而更有效、更輕松地完成 SEM 觀察。

• NEW 簡單 SEM

  只需選擇目標視野

  “簡單 SEM”支持日常工作

2. 準備抽真空觀察

*1 樣品臺導航系統(tǒng)（SNS）是選配件

*2 大區(qū)域樣品臺導航系統(tǒng)（SNSLS）是選配件

*3 樣品室相機（CS）是選配件

3. 自動開始觀察

真空完成后自動成像

2. 簡單分析

至多點擊3次即可開始EDS分析

多種高選項

1. NEW 低真空混合二次電子探測器（LHSED）*

該新型探測器可以收集電子和光子信號，并提供具有高信噪比和增強形貌信息的圖像

2. NEW 實時3D*

新多向分割BE探測器*獲得的圖像可以顯示為實時3D圖像。

即使樣品具有細微的表面起伏，實時3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來，并獲取其深度信息。

3. 蒙太奇

蒙太奇功能可以自動獲取多個小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。

4. 顯示信號深度

此功能實時顯示被測樣品的分析深度（近似數(shù)值），對元素分析非常有用。