產品介紹：

ProSp-RTM-UV/VIS全角度光譜測量系統(tǒng)，搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀，通過對入射和接收兩臂的角度控制，實現(xiàn)材料任意角度的光譜測量。它可以在很多領域發(fā)揮作用，如微納結構材料和器件、薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件、發(fā)光材料和器件、指紋按鍵器件等。ProSp-RTM-UV/VIS測量方式有：反射光譜測量（上反射和下反射）、透射光譜測量、輻射光譜測量和散射/熒光光譜測量。每種測量方式都由系統(tǒng)自動完成，我們僅需要選擇測量方式、設置測量參數(shù)，調整樣品位置即可。系統(tǒng)也支持手動測量方式，即我們可以把入射臂和接收臂，運行到任意的角度位置進行光譜測量。

功能描述：

1. 全角度測量：接收端0-360度，發(fā)射端0-270度

2. 高角度分辨率：分辨率達0.01°；

3. 全光譜測量：光譜范圍250-2500nm，搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀；

4. 不同測量模式：可以實現(xiàn)上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種模式；

5. 自動測量模式：通過軟件設置（測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環(huán)次數(shù)、積分時間等），實現(xiàn)不同模式的自動測量，中間不需人為干預；

6. 手動測量模式：可以任意控制樣品臺的入射角、接收角進行光譜測量；

7. 靈活的光源選擇：自帶鎢燈光源和外接光源；

8. 可擴展：可以在光路中增加濾波片、偏振片、波片等不改變光路的光學器件；

應用領域：

微納光學
材料學
生物技術
礦物分析
防偽
LED光源

液晶顯示
材料鍍膜等

                                                                               不同角度的反射率譜線

測量模式

反射測量（上反射/下反射）模式	透射測量模式
散射/熒光測量模式	輻射測量模式

主要參數(shù)

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可定制顯微光譜角分辨系統(tǒng)