大口徑光學(xué)元件吸收缺陷檢測(cè)儀(Model PTM-2000-LA)，適用于各類大口徑固體表面及亞表面缺陷的檢測(cè)和分析，特別是各類大口徑光學(xué)薄膜、光學(xué)元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測(cè)和分析。本系統(tǒng)是一款非接觸式、高分辨率、全自動(dòng)化檢測(cè)儀器，可以根據(jù)用戶具體需求進(jìn)行紫外、可見或者近紅外波段的精密檢測(cè)和分析。

1、高靈敏度；

2、高重復(fù)精度；

3、一鍵式操作 ；

4、樣品更換便捷、無需重復(fù)校準(zhǔn)；

5、可對(duì)吸收缺陷進(jìn)行二維（三維）高分辨率成像；

6、可進(jìn)行樣品或者選定的缺陷點(diǎn)在激光輻照下的穩(wěn)定性分析 ；

7、泵浦光源：可以標(biāo)配，也可以根據(jù)用戶需求選配。

注：可以根據(jù)客戶需求提供同類特制儀器和相關(guān)測(cè)試的解決方案。