產(chǎn)品簡介X射線熒光光譜（XRF）是一種廣泛用于測量鍍層厚度和成分的鍍層技術(shù)，其具有無損、快速和高準(zhǔn)確度等優(yōu)點

產(chǎn)品簡介

X射線熒光光譜（XRF）是一種廣泛用于測量鍍層厚度和成分的鍍層技術(shù)，其具有無損、快速和高準(zhǔn)確度等優(yōu)點。

ScopeX COAT高階款分析儀適用于多層鍍層厚度測量及材料分析，可定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。被廣泛應(yīng)用于汽車制造、航空航天、造船、五金產(chǎn)品、標(biāo)準(zhǔn)件、電子元器件、電器零部件、機械零部件、衛(wèi)浴裝飾產(chǎn)品、珠寶首飾等領(lǐng)域。

產(chǎn)品特性

一鍵智能操作

“開機啟動—瞄準(zhǔn)測試—查看結(jié)果”，整個分析過程僅需數(shù)秒便可完成，操作簡單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。

輕松自定義

在測試基礎(chǔ)上，提供多種自定義設(shè)置，可以根據(jù)檢測需要變更測試條件，也可根據(jù)篩選需要變更閾值，實現(xiàn)對不同材料、不同元素的個性化篩選。

多形式的數(shù)據(jù)輸出

可以以PDF格式或者Excel格式制作分析數(shù)據(jù)報告。使用Excel格式導(dǎo)出數(shù)據(jù)時，還可在表格中對數(shù)據(jù)進(jìn)行詳細(xì)確認(rèn)和編輯。用戶還可自定義創(chuàng)建專業(yè)報告：包括公司標(biāo)志、公司地址、檢測結(jié)果、光譜譜圖及其他樣品信息(如產(chǎn)品描述、產(chǎn)地、批號等)。

完善的安全防護(hù)

在測量過程中，儀器左右兩側(cè)輻射指示燈自動呼吸閃爍，內(nèi)置DoubleBeam™ 技術(shù)自動感知儀器前方有無樣品，提高射線的安全性和防護(hù)等級。

準(zhǔn)確可靠的定性定量方法

集成了浪聲前沿的Super-FP算法、校正曲線法等算法，使得儀器不僅測量速度更快，測量準(zhǔn)確性更高，測量一致性更強。

高品質(zhì)進(jìn)口探測器

儀器選用適合于多元素鍍層的分析進(jìn)口探測器，噪音小，可靈活地應(yīng)對未來鍍層結(jié)構(gòu)。