Duetta可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時進行內(nèi)濾效應校正

Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時進行內(nèi)濾效應校正。Duetta 標配超快的CCD 技術，讓它在采集速度的數(shù)倍優(yōu)于任何使用PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是一款能在100 毫秒內(nèi)獲得250nm-1100nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到1100 nm，遠超過標準PMT 熒光儀的光譜范圍。

主要特點

（1）配有吸收檢測器，吸收和熒光可同步檢測，一鍵校正內(nèi)濾效應。 

（2）熒光檢測器為CCD檢測器，掃描速度快，光譜掃描范圍寬，上限到達1100nm 

（3）操作簡單，包括光源預準直，自動更換光源，自動加樣端口等

規(guī)格參數(shù)

1、數(shù)據(jù)采集模式：同時獲得吸收熒光數(shù)據(jù)的熒光光譜儀

2、熒光靈敏度：SNR≥6,000:1 （水拉曼信噪比，350nm激發(fā)，5nm帶寬）。

3、光譜采集速率：≥510,000nm/min。

4、EEM-3D 三維光譜采集速率：快至≤1秒（和波長間隔設置相關）。

5、光源：75W 氙燈（無需工程師協(xié)助的預準直的卡槽更換）

6、同時采集吸收-激發(fā)-發(fā)射-熒光強度（A-TEEM）光譜速率：≤30秒（和波長間隔設置相關）。

7、激發(fā)光譜及吸收光譜范圍：250-1000nm。

8、熒光模塊：

　　*8.1、熒光檢測器：CCD 陣列探測器。

　　*8.2、熒光檢測范圍：250-1100nm；

　　*8.3、熒光測試光譜帶寬：1, 2, 3, 5,10, 20 nm (激發(fā)和發(fā)射側)。

　　*8.4、波長準確性：≤±1nm。

9、吸收部分：

　　*9.1、吸收檢測器：硅光電二極管。

　　*9.2、吸收檢測范圍：250-1100nm。

　　*9.3、吸收測試光譜帶寬：2, 3, 5, 10 nm。

　　*9.4、吸收值準確性：≤±0.02 A。

　　*9.5、吸收測試量程：0-2A。

10、具備報告生成器功能（PDF格式）：

　　*10.1、包括數(shù)據(jù)列表和擬合處理結果。

　　*10.2、測試方法內(nèi)容。

　　*10.3、2D 3D的圖譜。

　　*10.4、儀器和操作者確認信息。

　　*10.5、自定義logo。

　　*10.6、自定義簽名區(qū)域。

　　*10.7、全部數(shù)據(jù)和方法可追溯性。